復(fù)雜環(huán)境下輕量化口罩佩戴檢測(cè)算法研究[其他][醫(yī)療電子]
發(fā)表于:2023/8/25 15:41:38
基于PKS體系的終端功能場(chǎng)景驗(yàn)證方法研究[通信與網(wǎng)絡(luò)][信創(chuàng)產(chǎn)業(yè)]
發(fā)表于:2023/8/25 15:38:00
一種基于Quantus-reduce加速模擬仿真驗(yàn)證分析的解決方案[電子元件][其他]
發(fā)表于:2023/8/25 15:34:13
使用Xcelium Machine Learning技術(shù)加速驗(yàn)證覆蓋率收斂[電子元件][消費(fèi)電子]
發(fā)表于:2023/8/25 15:30:08
基于Cadence Integrity 3D-IC的異構(gòu)集成封裝系統(tǒng)級(jí)LVS檢查[電子元件][消費(fèi)電子]
發(fā)表于:2023/8/25 15:17:20
Concurrent Multi-die Optimization物理實(shí)現(xiàn)方案的應(yīng)用[電子元件][其他]
發(fā)表于:2023/8/25 15:00:10
DDR5仿真精度研究及在內(nèi)存升級(jí)中的應(yīng)用[電子元件][消費(fèi)電子]
發(fā)表于:2023/8/25 14:56:43
基于FCM flow的小規(guī)模數(shù)字電路芯片測(cè)試[測(cè)試測(cè)量][消費(fèi)電子]
發(fā)表于:2023/8/25 14:51:00
基于點(diǎn)云補(bǔ)全的三維目標(biāo)檢測(cè)[人工智能][其他]
發(fā)表于:2023/8/25 14:46:12
核電行業(yè)網(wǎng)絡(luò)安全應(yīng)急演練模式研究[其他][其他]
發(fā)表于:2023/8/24 18:07:00