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【熱門活動】2025年基礎(chǔ)電子測試測量方案培訓(xùn)

【熱門活動】2025年基礎(chǔ)電子測試測量方案培訓(xùn)

2025年基礎(chǔ)電子測試測量方案培訓(xùn)，第一課：數(shù)字萬用表實(shí)操基礎(chǔ) ；第二課：直流電源與信號源操作；第三課：示波器基礎(chǔ)操作；第四課：示波器進(jìn)階與儀器聯(lián)動

基于CH579的SHT30模塊溫濕度數(shù)據(jù)串口解析和letter-shell移植

感謝電子技術(shù)應(yīng)用的這次活動，申請到了一塊CH579的開發(fā)板。在芯片國產(chǎn)化的大趨勢下，很多人都在尋找可以用于替代進(jìn)口器件的國產(chǎn)芯片，所以趁此機(jī)會，簡單體驗(yàn)了一下沁恒芯片的開發(fā)，下面進(jìn)入正題。

發(fā)表于：2023/6/2

“沁恒微電子Cortex-MO內(nèi)核低功耗藍(lán)牙MCU CH579 ”芯片初步使用感受

沁恒微電子Cortex-MO內(nèi)核低功耗藍(lán)牙MCU CH579

發(fā)表于：2023/6/2

CH579開發(fā)板評測----智能溫度檢測器

感謝電子技術(shù)應(yīng)用的這次活動，免費(fèi)申請獲得了一塊ch579的開發(fā)板。

發(fā)表于：2023/6/2

是德科技攜手幾何伙伴簽署合作備忘錄，共同推動汽車感知平臺發(fā)展

　　2023年 05 月 23 日，北京——是德科技（Keysight Technologies, Inc.）日前宣布，是德科技與幾何伙伴簽署合作備忘錄，致力于攜手推動汽車感知與自動駕駛技術(shù)的發(fā)展。是德科技是一家領(lǐng)先的技術(shù)公司，致力于幫助企業(yè)、服務(wù)提供商和政府客戶加速創(chuàng)新，創(chuàng)造一個(gè)安全互聯(lián)的世界。

發(fā)表于：2023/6/1

泰克推出基于示波器的雙脈沖測試解決方案，加快SiC和GaN技術(shù)驗(yàn)證速度

　　中國北京，2023年5月31日—— 全球領(lǐng)先的測試測量解決方案提供商泰克科技公司日前宣布，推出最新雙脈沖測試解決方案（WBG-DPT解決方案）。各種新型寬禁帶開關(guān)器件正推動電動汽車、太陽能、工控等領(lǐng)域快速發(fā)展，泰克WBG-DPT解決方案能夠?qū)捊麕骷ㄈ鏢iC和GaN MOSFETs）提供自動可重復(fù)的、高精度測量功能。

發(fā)表于：2023/6/1

是德科技推出首款可實(shí)現(xiàn)快速、準(zhǔn)確誤差矢量幅度測量的中端網(wǎng)絡(luò)分析儀

　　是德科技（Keysight Technologies, Inc.）推出該公司首款中端矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀（VNA）產(chǎn)品——Keysight E5081A ENA-X。這款新產(chǎn)品不僅能快速實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確的誤差矢量幅度（EVM）測量，還能將表征 5G 元器件設(shè)計(jì)的速度提高50%。

發(fā)表于：2023/6/1

顯著性視覺的毫米波分區(qū)域檢測算法

針對毫米波圖像中人體不同部位呈現(xiàn)不同的結(jié)構(gòu)特性、隱匿物品與人體灰度差異小、檢測困難的問題，提出了一種顯著性視覺的毫米波分區(qū)域檢測算法。該算法在雙邊濾波后，結(jié)合大津法（OTSU）和形態(tài)學(xué)運(yùn)算完成預(yù)處理以獲得人體區(qū)域，再根據(jù)人體特征進(jìn)行區(qū)域劃分，分區(qū)域采用對稱判定策略判斷目標(biāo)是否存在，最后顯著性增強(qiáng)并通過K-means聚類分割算法分割出隱匿物品完成檢測。實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)表明，所提算法與典型的主動式毫米波圖像檢測算法相比，檢出率提高了8.28%，誤報(bào)率減少了1.58%，有更好的檢測性能。

發(fā)表于：2023/5/31

電感參數(shù)可視化測量方法研究

電感器有很多參數(shù)，其中最重要的兩個(gè)參數(shù)決定了電感器的性能：電感值和飽和電流。既有的電感參數(shù)測量方法要么能比較精確地測量電感值，要么能用其他輔助手段測量飽和電流，但都不能同時(shí)測量電感值和飽和電流。結(jié)合數(shù)字存儲示波器特殊的單次觸發(fā)和圖形顯示技術(shù)，設(shè)計(jì)簡易的電阻電感串聯(lián)測量電路，根據(jù)電感值的測量定義，測量出電感兩端的電壓值以及取樣電阻的電流變動值，從而計(jì)算出電感值。數(shù)字存儲示波器顯示測量曲線的拐點(diǎn)，即可求出電感飽和電流。通過實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證，此方法能得到精確的電感值，同時(shí)能得到直觀的飽和電流值。方法原理簡單，設(shè)計(jì)合理，易于操作，是在實(shí)驗(yàn)室缺少LCR測試儀的情況下一個(gè)經(jīng)濟(jì)有效的電感參數(shù)測量方法。

發(fā)表于：2023/5/31

基于改進(jìn)模糊PID位置隨動系統(tǒng)控制

針對直流有刷電機(jī)在使用傳統(tǒng)模糊PID控制器進(jìn)行位置隨動控制時(shí)，由于負(fù)載轉(zhuǎn)矩變化導(dǎo)致系統(tǒng)跟隨性能下降以及負(fù)載轉(zhuǎn)矩未知的問題，提出了基于負(fù)載觀測器的改進(jìn)模糊PID控制器代替?zhèn)鹘y(tǒng)模糊PID控制器，在傳統(tǒng)模糊控制結(jié)構(gòu)的基礎(chǔ)上增加負(fù)載觀測器，實(shí)時(shí)觀測系統(tǒng)負(fù)載轉(zhuǎn)矩，并利用負(fù)載轉(zhuǎn)矩實(shí)時(shí)調(diào)節(jié)系統(tǒng)控制器參數(shù)，提升了系統(tǒng)在負(fù)載轉(zhuǎn)矩突變時(shí)的位置跟隨能力。仿真結(jié)果表明：負(fù)載觀測器能實(shí)時(shí)、準(zhǔn)確地觀測負(fù)載轉(zhuǎn)矩，改進(jìn)模糊PID控制器對負(fù)載擾動有較強(qiáng)的抑制能力，并有效減小了系統(tǒng)的調(diào)節(jié)時(shí)間和穩(wěn)態(tài)誤差。

發(fā)表于：2023/5/31

基于USB2.0總線的NAND Flash檢測及控制方法

在高速大容量存儲裝置設(shè)計(jì)中多采用NAND Flash存儲器，針對目前采用串口檢測壞塊、實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)讀寫的方法存在檢測速度慢、等待時(shí)間長等缺點(diǎn)，提出了基于USB2.0總線的NAND Flash檢測與控制方法。利用FPGA邏輯控制功能和高速USB接口芯片設(shè)計(jì)通信和控制電路，并通過上位機(jī)軟件實(shí)現(xiàn)對Flash的命令、操作控制，由用戶通過PC應(yīng)用程序完成對NAND Flash的讀寫、擦除檢測及壞塊標(biāo)定。經(jīng)實(shí)驗(yàn)應(yīng)用驗(yàn)證，該方法檢測、讀寫速度快，使用靈活，能準(zhǔn)確、有效實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)的快速讀寫、擦除及壞塊標(biāo)定，可廣泛應(yīng)用于存儲測試裝置的設(shè)計(jì)研制中。

發(fā)表于：2023/5/31