中國上海,2023年9月14日——東芝電子元件及存儲裝置株式會社(“東芝”)今日宣布,進一步擴展ThermoflaggerTM過溫檢測IC產(chǎn)品線---“TCTH0xxxE系列”。該系列可用于具有正溫度系數(shù)(PTC)熱敏電阻的簡單電路中,用來檢測電子設(shè)備中的溫度升高,六款新產(chǎn)品于今日開始支持批量出貨。
為了使電子設(shè)備按規(guī)定運行,半導(dǎo)體和其他電子元件必須在設(shè)計參數(shù)范圍內(nèi)工作。內(nèi)部溫度是一個關(guān)鍵參數(shù),特別是當(dāng)它高于設(shè)計流程中的假設(shè)溫度時,它就可能成為安全性和可靠性方面的一個主要問題,因此需要過溫監(jiān)測解決方案來檢測任何溫度升高。
當(dāng)配置在具有PTC熱敏電阻(其電阻值隨溫度變化而變化)的簡單電路中時,ThermoflaggerTM過溫檢測IC不僅可以檢測溫度升高,還可以檢測置于熱源附近的PTC熱敏電阻的電阻變化,并在溫度過高時輸出FLAG信號。例如,當(dāng)ThermoflaggerTM檢測到異常發(fā)熱情況并向MCU發(fā)送FLAG信號時,MCU將關(guān)閉設(shè)備或改變正在產(chǎn)熱的設(shè)備或半導(dǎo)體的運行方式。通過串聯(lián)PTC熱敏電阻可同時在多個點進行過溫檢測。
這六款新產(chǎn)品分別是:TCTH011AE、TCTH012AE、TCTH021AE、TCTH022AE、TCTH011BE和TCTH012BE。上述產(chǎn)品加上已經(jīng)發(fā)布的TCTH021BE和TCTH022BE,進一步擴展了TCTH0xxxE系列產(chǎn)品線,使該產(chǎn)品線增加至8款產(chǎn)品。通過提供對兩種類型的PTCO輸出電流[1]的支持,新產(chǎn)品擴大了PTC熱敏電阻的可選范圍,既可選擇推挽型或開漏型FLAG信號輸出類型[2],也可選擇使用或不使用FLAG信號鎖存功能[3]。擴大產(chǎn)品選擇范圍,可以實現(xiàn)低電流消耗的靈活電路設(shè)計。
新產(chǎn)品采用小型,符合行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)SOT–553封裝(東芝的封裝名稱為:ESV),確保TCTH0xxxE系列支持用戶為成套電子設(shè)備輕松配置過溫檢測系統(tǒng),并助力實現(xiàn)尺寸和功耗的雙重改善。
除了已經(jīng)發(fā)布的參考設(shè)計過溫檢測IC ThermoflaggerTM的應(yīng)用電路(TCTH021BE/開漏型)之外,東芝在其官網(wǎng)上又發(fā)布了新版參考設(shè)計:過溫檢測IC ThermoflaggerTM應(yīng)用電路(TCTH021AE/推挽型)。
東芝使用村田制作所(以下簡稱“村田”)提供的PTC熱敏電阻的相關(guān)技術(shù)信息來實現(xiàn)過溫檢測解決方案。村田建議將ThermoflaggerTM與PTC熱敏電阻結(jié)合使用。
未來,東芝將繼續(xù)擴展其產(chǎn)品線,推出采用各種封裝、器件特性不斷完善的產(chǎn)品,助力提高設(shè)計靈活性并實現(xiàn)碳中和目標(biāo)。
開漏分配中FLAG信號輸出的操作示例
ThermoflaggerTM TCTH021AE電路板樣品
▲應(yīng)用:
-移動設(shè)備(筆記本電腦等)
-家用電器
-工業(yè)設(shè)備等
▲特性:
-配置簡單,可與PTC[1]熱敏電阻結(jié)合使用
-通過串聯(lián)PTC[1]熱敏電阻,可同時在多個點進行過溫監(jiān)測。
-低電流消耗:
IDD=1.8μA(典型值)(TCTH011AE、TCTH012AE、TCTH011BE、TCTH012BE)
IDD=11.3μA(典型值)(TCTH021AE、TCTH022AE)
-小型標(biāo)準(zhǔn)封裝:SOT–553(ESV)
-擴大了PTC[1]熱敏電阻的選擇范圍,具有兩種類型的PTCO輸出電流:
IPTCO=1.00μA(典型值)(TCTH011AE、TCTH012AE、TCTH011BE、TCTH012BE)
IPTCO=10.0μA(典型值)(TCTH021AE、TCTH022AE)
-高PTCO輸出電流精度:±8%
-FLAG信號輸出(PTCGOOD)可選擇推挽型和開漏型
-可選擇FLAG信號鎖存功能
▲主要規(guī)格:
注:
[1] PTCO輸出電流:由過溫檢測IC提供給PTC熱敏電阻的恒定電流。
[2] 當(dāng)過溫檢測IC檢測到錯誤時,就會輸出FLAG信號。推挽型由兩個垂直堆疊的MOSFET組成。輸出電流以任一方向流入和流出。開漏型由一個MOSFET組成。輸出電流只向一個方向流動。
[3] FLAG信號鎖存功能在過溫檢測IC檢測到錯誤(即使只有一次)后保持FLAG信號。過溫檢測IC不能自行恢復(fù);需要通過從MCU等將信號輸入到RESET引腳來恢復(fù)。
[4] 之前發(fā)布的產(chǎn)品
更多精彩內(nèi)容歡迎點擊==>>電子技術(shù)應(yīng)用-AET<<