高速數字接口測試,讓容限測試更高效[測試測量][物聯網]
數字電路和接口在越來越高的時鐘頻率下的表現非常類似于模擬電路。所以,為了確保新設計方案和重新設計的方案中接口的質量,必須引入新的測量方法和測量設備。
發(fā)表于:6/13/2023 8:33:00 AM
線邊緣粗糙度(LER)如何影響先進節(jié)點上半導體的性能[EDA與制造][消費電子]
發(fā)表于:6/12/2023 10:49:00 PM
羅克韋爾自動化攜Rockii Net-Zero凈零解決方案亮相首屆上海國際碳中和博覽會[人工智能][物聯網]
發(fā)表于:6/12/2023 10:16:05 PM