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意法半導(dǎo)體微型AI傳感器集成運(yùn)動(dòng)跟蹤和高強(qiáng)度沖擊測量功能

意法半導(dǎo)體微型AI傳感器集成運(yùn)動(dòng)跟蹤和高強(qiáng)度沖擊測量功能

2025年5月21日，中國--服務(wù)多重電子應(yīng)用領(lǐng)域、全球排名前列的半導(dǎo)體公司意法半導(dǎo)體 (STMicroelectronics，簡稱ST；紐約證券交易所代碼:STM) 日前宣布了一款在一個(gè)節(jié)省空間的封裝內(nèi)集成運(yùn)動(dòng)跟蹤傳感器和高重力沖擊測量傳感器的慣性測量單元，裝備該測量單元的設(shè)備可以非常準(zhǔn)確地重構(gòu)完整事件，提供更多的功能和出色的用戶體驗(yàn)

基于SVM手繪太陽黑子圖像背景提取方法

手繪太陽黑子圖像手寫記錄信息對于研究太陽黑子長期活動(dòng)規(guī)律具有重要價(jià)值，而背景提取又是利用計(jì)算機(jī)手繪太陽黑子信息數(shù)字化工作中的關(guān)鍵過程。文章提出一種基于支持向量機(jī)（Support Vector Machine ，SVM）的手繪太陽黑子圖像信息背景提取方法，通過針對性地對每個(gè)像素樣本特征向量的監(jiān)督學(xué)習(xí)訓(xùn)練，從而實(shí)現(xiàn)背景像素與前景像素的分離，實(shí)驗(yàn)證明該方法具有很好的魯棒性，將此方法與傳統(tǒng)的K-means模糊劃分、模糊C均值（FCM）聚類方法進(jìn)行對比分析，證實(shí)該方法的應(yīng)用價(jià)值更高。

發(fā)表于：1/5/2017

基于稀疏排列的LPP和ELM的人臉識別

人臉圖像識別中人臉圖像數(shù)據(jù)中有很多是稀疏的，對于稀疏數(shù)據(jù)的降維是流形學(xué)習(xí)算法面臨的一個(gè)問題。為了有效地從高維圖像數(shù)據(jù)中提取人臉圖像的敏感信息，提高人臉識別的速度，文章提出了一種基于流形學(xué)習(xí)的有監(jiān)督稀疏排列的局部保持投影算法(SSLPP)的極端學(xué)習(xí)機(jī)(ELM)。

發(fā)表于：1/5/2017

淺析華為在筆記本市場的希望與難題

華為今年的MateBook新增13.3、15.6寸兩款產(chǎn)品，并且與去年的產(chǎn)品是二合一平板不同的是，這是傳統(tǒng)筆記本產(chǎn)品，據(jù)說代工制造服務(wù)已由和碩和廣達(dá)兩家奪得，并傳出訂單可能高達(dá)百萬，那么它在筆記本市場的希望與難題又會有哪些呢？

發(fā)表于：1/5/2017

泰克打造器件與集成電路產(chǎn)業(yè)鏈深度互動(dòng)平臺

中國北京2016年12月27日訊 –前不久，國務(wù)院印發(fā)的《“十三五”國家科技創(chuàng)新規(guī)劃》中，明確提出將發(fā)展先進(jìn)功能材料技術(shù)，以及新一代信息技術(shù)作為全國科研隊(duì)伍下一階段的工作方向。事實(shí)上，隨著科技的進(jìn)步，材料產(chǎn)業(yè)在工業(yè)發(fā)展中發(fā)揮著越來越重要的作用，近年來氮化鎵、砷化鎵、石墨烯等新型材料在集成電路技術(shù)、新能源等領(lǐng)域帶來革命性的發(fā)展機(jī)會。在此背景下，泰克科技公司近日在重慶成功舉辦了“新型材料、器件與半導(dǎo)體集成電路測試測量技術(shù)研討會” ，希望促進(jìn)新材料技術(shù)科研與產(chǎn)業(yè)的對話，促成材料與器件產(chǎn)業(yè)鏈良性互動(dòng)發(fā)展。

發(fā)表于：1/3/2017

DRAM搭載量跳增南亞科華邦電受惠最大

微軟近期取消對高端筆電Win10加收授權(quán)金措施，推升商用筆電DRAM搭載量由4GB翻倍到8GB，同時(shí)，新款A(yù)ndroid智能手機(jī)因?yàn)橹С痔摂M現(xiàn)實(shí)或擴(kuò)增實(shí)境（VR／AR）游戲，Mobile DRAM搭載容量亦翻倍至4～6GB。受惠于筆電及智能手機(jī)DRAM搭載量跳增，第一季合約價(jià)看漲2～3成，南亞科、華邦電受惠最大。

發(fā)表于：12/30/2016

夏普將重返半導(dǎo)體

據(jù)報(bào)道，夏普社長戴正吳表示，夏普要重返積極布局半導(dǎo)體事業(yè)，并透過投資和并購方式，落實(shí)相機(jī)模組事業(yè)的垂直整合。

發(fā)表于：12/30/2016

RS Components備貨了 Fluke 新款系列產(chǎn)品

中國上海，2016年12月29日 - 服務(wù)于全球工程師的分銷商 Electrocomponents plc 集團(tuán)旗下的貿(mào)易品牌RS Components (RS) (LSE:ECM) 宣布新增了來自領(lǐng)先的電氣測試和測量制造商 Fluke公司的新產(chǎn)品，其中包括最新的電氣測試儀系列產(chǎn)品。

發(fā)表于：12/29/2016

固體礦產(chǎn)儲量三維動(dòng)態(tài)管理系統(tǒng)的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)

針對礦產(chǎn)資源儲量管理中動(dòng)態(tài)監(jiān)管難度大、數(shù)據(jù)質(zhì)量低的問題，根據(jù)儲量管理部門對礦山日?？碧脚c開發(fā)工作的監(jiān)管需求，設(shè)計(jì)開發(fā)了固體礦產(chǎn)資源儲量三維動(dòng)態(tài)管理系統(tǒng)。介紹了系統(tǒng)定位、系統(tǒng)功能和系統(tǒng)體系結(jié)構(gòu)，以三維虛擬空間為背景，基于3DMine和ArcGIS平臺實(shí)現(xiàn)了系統(tǒng)開發(fā)，并以龍巖市馬坑鐵礦資源儲量三維模型數(shù)據(jù)為例進(jìn)行系統(tǒng)驗(yàn)證，系統(tǒng)達(dá)到了數(shù)據(jù)直觀可視、儲量估算便捷、監(jiān)管比查有據(jù)的應(yīng)用效果。

發(fā)表于：12/27/2016

紙幣機(jī)械式測厚系統(tǒng)運(yùn)動(dòng)過程試驗(yàn)研究

目前銀行使用的高端點(diǎn)驗(yàn)鈔機(jī)配備機(jī)械式紙幣測厚系統(tǒng)，銀行需通過該系統(tǒng)將厚度異常的紙幣清分出來，特別是在紙幣前端黏貼有膠帶的紙幣。針對機(jī)械式紙幣測厚系統(tǒng)在走鈔過程中由于彈片的抖動(dòng)無法檢測到紙幣前端黏貼有膠帶的問題，設(shè)計(jì)了一個(gè)抖動(dòng)檢測試驗(yàn)平臺，并分別利用高速相機(jī)及電渦流傳感器檢測走鈔過程中在沖擊初始階段測厚系統(tǒng)的彈片的彈跳。首先以測厚系統(tǒng)為樣本搭建一個(gè)抖動(dòng)檢測試驗(yàn)平臺模仿紙幣在點(diǎn)驗(yàn)鈔機(jī)中的走鈔狀態(tài)，然后利用高速相機(jī)拍攝測厚系統(tǒng)在走鈔過程中的運(yùn)動(dòng)狀態(tài)并通過描繪拍攝照片特征點(diǎn)得到測厚系統(tǒng)在走鈔過程中的抖動(dòng)軌跡，再利用安裝在抖動(dòng)試驗(yàn)平臺的電渦流傳感器檢測走鈔過程中測厚系統(tǒng)的抖動(dòng)軌跡，最后結(jié)合彈簧質(zhì)量系統(tǒng)進(jìn)行理論分析。試驗(yàn)結(jié)果表明，能通過高速相機(jī)及電渦流傳感器在抖動(dòng)試驗(yàn)平臺上清晰檢測到走鈔過程中沖擊初始階段測厚系統(tǒng)的彈片產(chǎn)生位移較大且維持時(shí)間占紙幣過鈔時(shí)間10%的彈跳。該研究結(jié)果可為改進(jìn)設(shè)計(jì)提供依據(jù)及檢測手段，為類似應(yīng)用提供借鑒。

發(fā)表于：12/27/2016

基于過零點(diǎn)檢測方法的改進(jìn)研究

通過與傳統(tǒng)的過零點(diǎn)檢測方法作對比，設(shè)計(jì)出一種基于預(yù)測相位的二次平均法測量信號周期（簡稱預(yù)測相位積分法）的方法，通過其核心部件密勒積分器、比較器和計(jì)數(shù)器，對于每個(gè)周期信號盡可能準(zhǔn)確地在相同相位點(diǎn)上開始進(jìn)行積分，在標(biāo)準(zhǔn)時(shí)間內(nèi)累計(jì)待測信號的脈沖個(gè)數(shù)，實(shí)現(xiàn)了頻率測量。該方法有較好干擾能力，結(jié)構(gòu)簡單，測量精度高，成本低廉，具有較好的工程應(yīng)用價(jià)值。

發(fā)表于：12/27/2016