芯片樣品驗證平臺自適應(yīng)和同步測試功能的設(shè)計與實現(xiàn)
所屬分類：解決方案
上傳者：aetmagazine
文檔大?。?span>4381 K
標簽： 自適應(yīng) 同步測試 樣品驗證
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文檔介紹：目前，芯片設(shè)計公司在對量產(chǎn)級的芯片進行樣品驗證時，傳統(tǒng)的樣品驗證方法大多是基于芯片自身特點來設(shè)計相應(yīng)的測試設(shè)備，然后通過測試夾具對芯片樣品逐一測試，不同的芯片會設(shè)計不同的測試設(shè)備。提出了一種自適應(yīng)且可同步測試的樣品驗證平臺方案，既可以實現(xiàn)同時測試多顆芯片，也可以對不同接口的芯片進行測試；既可以進行可靠性實驗測試，也可以進行其他功能的測試，大大節(jié)省了測試設(shè)備的維護成本，提高測試效率。
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