| 热退火对GaN阴极光电发射性能的影响 | |
| 所屬分類(lèi):技术论文 | |
| 上傳者:v895bv | |
| 文檔大?。?span>1286 K | |
| 標(biāo)簽: GaN | |
| 所需積分:0分積分不夠怎么辦? | |
| 文檔介紹:热退火不但可以大量地减少GaN阴极样品中的各种缺陷和寄生电容,改善材料的结晶属性,而且可以改善样品的表面质量,对提高样品的光谱响应是一种有力的手段。对GaN阴极样品进行了不同温度、不同时间的退火处理,使样品的性能得到了改善,最优条件下样品的暗电流仅为200pA,电阻率仅为1.6 Ω.cm,最大光谱响应为0.19A/W。依据光谱响应作为评估标准,可以得出,采用700℃热退火10min制备出的阴极具有更高的光电发射性能,从而实现了GaN光电阴极的优化制备工艺。 | |
| 現(xiàn)在下載 | |
| VIP會(huì)員,AET專(zhuān)家下載不扣分;重復(fù)下載不扣分,本人上傳資源不扣分。 | |
Copyright ? 2005-2024 華北計(jì)算機(jī)系統(tǒng)工程研究所版權(quán)所有 京ICP備10017138號(hào)-2