應(yīng)對多樣化數(shù)字接口測試挑戰(zhàn)的解決方案——基于可編程FPGA的測試儀器
所屬分類：白皮書
上傳者：Stone_Mei
文檔大?。?span>1015 K
標(biāo)簽： FPGA Quartus 虹科電子
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文檔介紹：現(xiàn)今，電子測試工程師面臨著大量多樣化的數(shù)字接口帶來的挑戰(zhàn)。軍事、航空、通信和汽車電子都同時(shí)使用工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)和定制數(shù)字接口。專用特定接口的測試儀器和用于通用數(shù)字I/O接口的測試儀器可以支持以上大部分接口。專用測試儀器是非常昂貴的，通用數(shù)字I/O接口的測試儀器僅試用部分方案并且需要大量編程/調(diào)試工作，最終也會(huì)增加成本。然而，基于可編程FPGA的測試儀器可以提供成本合理的解決方案，并可選通用數(shù)字I/O接口還
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