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NI发布业界最高精度的PXI源测量单元
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NI推出第二代矢量信号收发仪
發(fā)表于:2016/7/13 下午7:43:00
PXI 智能测试系统的必然选择
發(fā)表于:2016/6/24 下午3:33:00
NI举办第十三届“PXI 技术和应用论坛”
發(fā)表于:2016/6/24 下午3:14:00
NI推出业界最精确的7位半数字万用表(DMM)
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第十三届“PXI技术和应用论坛(PXI TAC 2016)”将于6月16日在上海举办
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NI亮相VTC 2016春季会议
發(fā)表于:2016/5/31 下午9:32:00
美国国家仪器与北京交通大学联合揭幕
發(fā)表于:2016/5/30 下午3:22:00
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發(fā)表于:2016/5/19 下午7:56:00
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美国国家仪器携手同济大学联合揭幕
發(fā)表于:2016/5/10 下午10:04:00
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發(fā)表于:2016/4/21 下午9:25:00
NI发布VirtualBench多功能一体式仪器增强版
發(fā)表于:2016/4/8 下午6:41:00
NI发布灵活的 LTE-U/LAA 参考验证方案
發(fā)表于:2016/3/30 上午11:06:00
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發(fā)表于:2016/3/29 下午7:47:00
NI发布2016自动化测试趋势展望 智能化测试系统势在必行
發(fā)表于:2016/3/21 下午8:57:00
NI推出增强版半导体测试管理软件
發(fā)表于:2016/3/21 下午8:55:00
NI发布2016自动化测试趋势展望,智能化测试系统势在必行
發(fā)表于:2016/3/16 下午5:07:00
NI亮相2016Semicon中国半导体展 推出增强版半导体测试管理软件
發(fā)表于:2016/3/16 下午5:02:00
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發(fā)表于:2016/3/16 下午5:02:00
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發(fā)表于:2016/3/14 下午8:06:00
上海微技术工研院牵手美国国家仪器引领国内射频及微波芯片测试技术研发
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TSN,为工业物联网量身定做的全新网络标准
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贸泽电子官网迎来20周岁生日
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