《電子技術(shù)應(yīng)用》
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NI舉辦第十三屆“PXI 技術(shù)和應(yīng)用論壇”

發(fā)布多項業(yè)界首創(chuàng)PXI新產(chǎn)品,打造更智能的系統(tǒng)測試
2016-06-24

  新聞發(fā)布 - 2016年6月16日–NI(美國國家儀器公司,National  Instruments,簡稱NI)作為致力于為工程師和科學(xué)家提供解決方案來幫助他們應(yīng)對全球最嚴(yán)峻工程挑戰(zhàn)的供應(yīng)商,近日在上海舉辦了第十三屆“PXI 技術(shù)和應(yīng)用論壇” (PXI Technology & Application Conference,即 PXI TAC)。本次PXI TAC的主題為“更智能的系統(tǒng)-更智能的系統(tǒng)測試”,吸引了600余名行業(yè)領(lǐng)軍人物、技術(shù)專家和相關(guān)機構(gòu)代表,共同分享最新、最全、最前沿的測試領(lǐng)域技術(shù)干貨,探討PXI技術(shù)的發(fā)展趨勢和應(yīng)用案例。

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  在今年的PXI TAC上,NI發(fā)布了7位半數(shù)字萬用表(DMM)、802.11ax無線測試解決方案、用于毫米波(mmWave)的軟件無線電(SDR)和模塊化源測量單元(SMU)等多款業(yè)界首創(chuàng)的PXI新產(chǎn)品,再度引領(lǐng)PXI技術(shù)發(fā)展的新潮流,致力于幫助用戶打造更加智能的系統(tǒng)測試解決方案。同時,15家國內(nèi)外知名PXI供應(yīng)商和系統(tǒng)集成商亮相本次PXI TAC,展示了他們基于PXI技術(shù)開發(fā)的各項產(chǎn)品和技術(shù)應(yīng)用。

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  自NI推出PXI技術(shù)以來,PXI平臺現(xiàn)已成為了自動化測試和控制的主流平臺。和傳統(tǒng)儀器相比,PXI平臺具有較高的測量能力,低延遲和高帶寬,軟件靈活定義,集成定時和同步,高處理性能,尺寸、重量、功耗小,平臺儀器齊全等優(yōu)點;并且PXI平臺可以作為整個系統(tǒng)的中心,連接已有的其他儀器,如LXI,VXI,USB,GPIB等,在最大可能減少系統(tǒng)瓶頸的情況下,保持已有設(shè)備投資。因此,越來越多的客戶使用PXI平臺的儀器開展自動化測試。據(jù)Frost & Sullivan預(yù)測,到2021年,PXI平臺作為整個儀器行業(yè)的主力增長力量,將會一直以超過15%的增長率持續(xù)增長。

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  圖:NI全球市場高級副總裁Ajit Gokhale

  NI始終致力于PXI技術(shù)的不斷進步,并在這一領(lǐng)域不斷投入和持續(xù)創(chuàng)新。隨著以物聯(lián)網(wǎng)為代表的智能系統(tǒng)的興起,智能設(shè)備呈爆炸式增長態(tài)勢,對測試和測量任務(wù)提出更加嚴(yán)峻的挑戰(zhàn)。 “在物聯(lián)網(wǎng)的大背景下,智能設(shè)不斷涌現(xiàn),形成了更智能的系統(tǒng),這就必然需要更加智能的測試系統(tǒng)。憑借開放靈活的軟件、模塊化的硬件和完整的生態(tài)系統(tǒng),PXI平臺獲得了自動化測控領(lǐng)域工程師的一致認可,” NI全球市場高級副總裁Ajit Gokhale表示,“作為PXI平臺的發(fā)明者和市場領(lǐng)導(dǎo)者, NI多年來堅持將PXI TAC打造成開放、自由的技術(shù)交流平臺。我們期待與各界同仁攜手,促成PXI平臺的持續(xù)創(chuàng)新,應(yīng)對測試測量任務(wù)越來越嚴(yán)峻的挑戰(zhàn)?!?/p>


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