新聞發(fā)布 - 2016年3月15日-作為致力于為工程師和科學(xué)家提供解決方案來(lái)幫助他們應(yīng)對(duì)全球最嚴(yán)峻工程挑戰(zhàn)的供應(yīng)商，NI(美國(guó)國(guó)家儀器公司，National Instruments，簡(jiǎn)稱NI)近日發(fā)布了《2016自動(dòng)化測(cè)試趨勢(shì)展望》。 這份年度測(cè)試和測(cè)量報(bào)告綜合概括了日益互聯(lián)化的自動(dòng)化測(cè)試環(huán)境的主要趨勢(shì)，主題涵蓋從毫米波(mmWave)通信到如何有效利用制造測(cè)試數(shù)據(jù)來(lái)提高商業(yè)績(jī)效。

　　“NI致力于不斷提高自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)的性能，因此與客戶和供應(yīng)商密切合作，借此深入了解制造與測(cè)試部門所面臨的主要挑戰(zhàn)，”NI自動(dòng)化測(cè)試市場(chǎng)營(yíng)銷總監(jiān)Luke Schreier表示，“不論您的挑戰(zhàn)是測(cè)試數(shù)百萬(wàn)個(gè)物聯(lián)網(wǎng)設(shè)備還是管理已使用20年的測(cè)試系統(tǒng)，我們的目標(biāo)就是激起貴公司的內(nèi)部對(duì)話和討論，進(jìn)而幫助您降低測(cè)試成本以及保持競(jìng)爭(zhēng)優(yōu)勢(shì)?！?/p>

　　《2016自動(dòng)化測(cè)試趨勢(shì)展望》探討了以下幾個(gè)主題：

　　計(jì)算： 采集生產(chǎn)測(cè)試數(shù)據(jù)

　　半導(dǎo)體行業(yè)率先采用實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)分析來(lái)降低生產(chǎn)測(cè)試成本。

　　軟件： 生命周期管理的關(guān)鍵在于軟件

　　報(bào)廢、操作系統(tǒng)更新?lián)Q代以及兼容性給生命周期較長(zhǎng)的項(xiàng)目帶來(lái)重重挑戰(zhàn) — 這個(gè)長(zhǎng)期懸而未決的問題值得我們深入探究。

　　架構(gòu)： 測(cè)試管理軟件的崛起

　　在新編程語(yǔ)言不斷涌現(xiàn)的情況下，采用現(xiàn)成測(cè)試執(zhí)行軟件將是有效的解決辦法。

　　I/O： 從表征到生產(chǎn)的平臺(tái)標(biāo)準(zhǔn)化

　　RFIC公司在整個(gè)產(chǎn)品設(shè)計(jì)周期中通過(guò)IP復(fù)用和硬件標(biāo)準(zhǔn)化來(lái)降低成本和縮短產(chǎn)品上市時(shí)間。