基于FPGA和線陣CCD的色選實(shí)驗(yàn)平臺研究
所屬分類：參考設(shè)計
上傳者：aet
文檔大?。?span>413 K
標(biāo)簽： FPGA
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文檔介紹：提出了一種基于FPGA和線陣CCD的色選實(shí)驗(yàn)平臺，利用線陣CCD對下落的大米進(jìn)行在線動態(tài)掃描，通過FPGA對采集到的大米圖像信息進(jìn)行分析和處理，識別出異色米粒，并通過分離裝置剔除不合格大米。詳細(xì)介紹了硬件平臺的設(shè)計以及采用的色選算法，該研究對高性能大米色選機(jī)的研制具有重要的參考價值。
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