基于FPGA的數據域邊界掃描測試向量
所屬分類:參考設計
上傳者:aet
文檔大?。?span>382 K
標簽: FPGA
所需積分:0分積分不夠怎么辦?
文檔介紹:設計了一種基于FPGA的邊界掃描測試向量發(fā)生器,該發(fā)生器可以為邊界掃描故障診斷系統(tǒng)提供測試向量,并可計算測試向量的故障覆蓋率。與以往通過軟件提供測試向量的方法相比,該設計在速度和效率上有了較大提高。
現(xiàn)在下載
VIP會員,AET專家下載不扣分;重復下載不扣分,本人上傳資源不扣分。