FPGA設(shè)計(jì)驗(yàn)證關(guān)鍵要點(diǎn) | |
所屬分類(lèi):技術(shù)論文 | |
上傳者:serena | |
文檔大小:182 K | |
標(biāo)簽: FPGA | |
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文檔介紹:不同于ASIC設(shè)計(jì),F(xiàn)PGA設(shè)計(jì)中的標(biāo)準(zhǔn)元件或客制化實(shí)作,一般欠缺大量的資源及準(zhǔn)備措施可用于設(shè)計(jì)驗(yàn)證。由于可以重新程式化元件,更多時(shí)候驗(yàn)證只是事后的想法。本文將探討在FPGA設(shè)計(jì)驗(yàn)證周期過(guò)程中使用的工具及技術(shù),并逐一審視各項(xiàng)優(yōu)缺點(diǎn)。有效驗(yàn)證降低設(shè)計(jì)風(fēng)險(xiǎn)。 | |
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