基于芯片封裝的微系統(tǒng)模塊PDN設(shè)計(jì)優(yōu)化 | |
所屬分類:技術(shù)論文 | |
上傳者:aetmagazine | |
文檔大小:6652 K | |
標(biāo)簽: TSV HTCC 微系統(tǒng) | |
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文檔介紹:隨著IC芯片的供電電源趨向低電壓以及大電流,基于2.5D硅通孔技術(shù)(Through-Silicon-Via,TSV)、倒扣焊、高溫共燒陶瓷(High Temperature Co-fired Ceramics,HTCC)、3D堆疊等的微系統(tǒng)模塊的電源分配系統(tǒng)(Power Delivery Network,PDN)的設(shè)計(jì)越來(lái)越重要。芯片電流經(jīng)過(guò)PDN互連產(chǎn)生輸出噪聲,這些互連必須提供一個(gè)較優(yōu)低阻抗的信號(hào)返回路徑,保持芯片焊盤間恒定的供電電壓且維持在一個(gè)很小的容差范圍內(nèi),通常在5%以內(nèi)。基于芯片封裝系統(tǒng)(Chip Package System, CPS),結(jié)合TSV硅基板、HTCC管殼、PCB三級(jí)協(xié)同對(duì)微系統(tǒng)模塊PDN提出設(shè)計(jì)及優(yōu)化方法,從直流設(shè)計(jì)、交流阻抗設(shè)計(jì)分別進(jìn)行闡述,并運(yùn)用芯片電源模型 (Chip Power Model, CPM),結(jié)合時(shí)域分析實(shí)現(xiàn)了電源紋波PDN低阻抗設(shè)計(jì)。 | |
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