| 基于芯片封装的微系统模块PDN设计优化 | |
| 所屬分類:技术论文 | |
| 上傳者:aetmagazine | |
| 文檔大小:6652 K | |
| 標(biāo)簽: TSV HTCC 微系统 | |
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| 文檔介紹:随着IC芯片的供电电源趋向低电压以及大电流,基于2.5D硅通孔技术(Through-Silicon-Via,TSV)、倒扣焊、高温共烧陶瓷(High Temperature Co-fired Ceramics,HTCC)、3D堆叠等的微系统模块的电源分配系统(Power Delivery Network,PDN)的设计越来越重要。芯片电流经过PDN互连产生输出噪声,这些互连必须提供一个较优低阻抗的信号返回路径,保持芯片焊盘间恒定的供电电压且维持在一个很小的容差范围内,通常在5%以内。基于芯片封装系统(Chip Package System, CPS),结合TSV硅基板、HTCC管壳、PCB三级协同对微系统模块PDN提出设计及优化方法,从直流设计、交流阻抗设计分别进行阐述,并运用芯片电源模型 (Chip Power Model, CPM),结合时域分析实现了电源纹波PDN低阻抗设计。 | |
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