一種用于高頻S參數(shù)的去嵌算法 | |
所屬分類:技術(shù)論文 | |
上傳者:aetmagazine | |
文檔大小:4243 K | |
標簽: S參數(shù) 去嵌 高頻信號 | |
所需積分:0分積分不夠怎么辦? | |
文檔介紹:在S參數(shù)的測量過程中,需通過去嵌方法去除測試夾具帶來的結(jié)果誤差。該算法通過時域的方法對夾具進行分解。接著將分解得到的夾具S參數(shù)采用ABCD矩陣運算進行去除,從而得到待測器件的S參數(shù)。通過設(shè)計測試板來進行實驗,將該算法與傳統(tǒng)的AFR和Delta L方法進行了比較,驗證了該去嵌算法對高頻信號的有效性以及準確性。同時由于該算法先分解再去嵌的特性,使其可應(yīng)用于左右夾具不一致的情況。 | |
現(xiàn)在下載 | |
VIP會員,AET專家下載不扣分;重復(fù)下載不扣分,本人上傳資源不扣分。 |
Copyright ? 2005-2024 華北計算機系統(tǒng)工程研究所版權(quán)所有 京ICP備10017138號-2