一種用于高頻S參數(shù)的去嵌算法
所屬分類:技術(shù)論文
上傳者:aetmagazine
文檔大小:4243 K
標簽: S參數(shù) 去嵌 高頻信號
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文檔介紹:在S參數(shù)的測量過程中,需通過去嵌方法去除測試夾具帶來的結(jié)果誤差。該算法通過時域的方法對夾具進行分解。接著將分解得到的夾具S參數(shù)采用ABCD矩陣運算進行去除,從而得到待測器件的S參數(shù)。通過設(shè)計測試板來進行實驗,將該算法與傳統(tǒng)的AFR和Delta L方法進行了比較,驗證了該去嵌算法對高頻信號的有效性以及準確性。同時由于該算法先分解再去嵌的特性,使其可應(yīng)用于左右夾具不一致的情況。
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