基于功放、功分技術(shù)的微波信號源擴(kuò)展方法研究
所屬分類：技術(shù)論文
上傳者：aetmagazine
文檔大小：789 K
標(biāo)簽： 量子計(jì)算 芯片測試 射頻信號源
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文檔介紹：量子超導(dǎo)計(jì)算芯片的測試需要幾十甚至上百路高頻微波信號輸入，普通微波信號源一般只有1～2個(gè)通道，遠(yuǎn)遠(yuǎn)不能滿足測試需求；若集成多個(gè)信號源以擴(kuò)展信號通道，不但體積龐大，成本昂貴，信號源的同步控制也是一個(gè)難題。針對上述問題，基于功放及功分技術(shù)，提出了對微波信號源的一路輸出進(jìn)行等功率擴(kuò)展的方法，設(shè)計(jì)了集成了衰減器、功放和功分模塊的信號源等幅擴(kuò)展裝置。利用微波信號源、頻譜儀、網(wǎng)分等測量儀器搭建實(shí)驗(yàn)平臺，對所設(shè)計(jì)信號源擴(kuò)展裝置的性能開展實(shí)驗(yàn)研究，同時(shí)驗(yàn)證基于功放、功分技術(shù)的微波信號源擴(kuò)展方法。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明，所提出的方法能保證所擴(kuò)展信號的中心頻率、功率與源信號高度一致，各擴(kuò)展通道的信號相位穩(wěn)定性好，相位長期漂移控制在±1°以內(nèi)，滿足了量子超導(dǎo)計(jì)算芯片測試的需求。
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