5G測(cè)試儀器關(guān)鍵技術(shù)研究與產(chǎn)品開(kāi)發(fā)
所屬分類(lèi)：技術(shù)論文
上傳者：aetmagazine
文檔大?。?span>3005 K
標(biāo)簽： 5G測(cè)試 EVM校準(zhǔn) 新空口
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文檔介紹：隨著5G技術(shù)研發(fā)試驗(yàn)和產(chǎn)品研發(fā)試驗(yàn)的推進(jìn)，作為支撐產(chǎn)業(yè)發(fā)展的測(cè)試儀器也進(jìn)入到發(fā)展快車(chē)道，國(guó)內(nèi)廠家已經(jīng)成功開(kāi)發(fā)出基站、終端、外場(chǎng)與核心網(wǎng)等5G通信測(cè)試儀器。介紹了5G通信測(cè)試儀器的關(guān)鍵技術(shù)突破與最新產(chǎn)品成果，包括高性能5G通信測(cè)試平臺(tái)設(shè)計(jì)與制造、多標(biāo)準(zhǔn)5G NR物理層測(cè)試、5G異構(gòu)網(wǎng)絡(luò)空口協(xié)議解析、微波毫米波測(cè)試校準(zhǔn)等關(guān)鍵技術(shù)，也介紹了基站測(cè)試、終端綜測(cè)和空口監(jiān)測(cè)等測(cè)試儀器性能，這些測(cè)試儀器在5G通信產(chǎn)業(yè)鏈各環(huán)節(jié)發(fā)揮了重要作用，為產(chǎn)業(yè)的快速發(fā)展提供了有力支撐。
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