文獻(xiàn)標(biāo)識(shí)碼: A
DOI:10.16157/j.issn.0258-7998.211529
中文引用格式: 孫恒,王仁平,蔡沅坤. DMSA在時(shí)序簽核中的應(yīng)用[J].電子技術(shù)應(yīng)用,2021,47(11):44-46.
英文引用格式: Sun Heng,Wang Renping,Cai Yuankun. Application of DMSA in timing sign-off[J]. Application of Electronic Technique,2021,47(11):44-46.
0 引言
隨著集成電路產(chǎn)業(yè)不斷發(fā)展,芯片制造早已進(jìn)入深亞微米時(shí)代,一直以來(lái),時(shí)序簽核一直是檢驗(yàn)芯片設(shè)計(jì)是否合格的重要標(biāo)準(zhǔn)之一,在綜合工具(Design Compiler,DC)、布局布線工具(Integrated Circuit Compiler,ICC)、時(shí)序分析工具(Prime Time,PT)中都嵌入了不同的時(shí)序分析引擎。當(dāng)工藝節(jié)點(diǎn)達(dá)到90 nm及以下時(shí),為了使芯片在不同的極端環(huán)境下可以正常工作,就需要采用多工藝角多模式的物理設(shè)計(jì)方案來(lái)確保芯片在不同環(huán)境下穩(wěn)定工作[1-3]。在對(duì)多場(chǎng)景物理設(shè)計(jì)進(jìn)行時(shí)序分析時(shí),傳統(tǒng)PT需要打開(kāi)多個(gè)窗口反復(fù)切換場(chǎng)景以達(dá)到遍歷每一個(gè)場(chǎng)景的目的,隨后逐個(gè)場(chǎng)景進(jìn)行時(shí)序分析,這樣會(huì)使設(shè)計(jì)過(guò)程變得過(guò)于繁瑣,而且,對(duì)于同一路徑,不同場(chǎng)景下的時(shí)序違規(guī)可能會(huì)重復(fù)出現(xiàn),對(duì)時(shí)序分析帶來(lái)不必要的麻煩[4],工藝角或模式的合并,也會(huì)帶來(lái)各種各樣的問(wèn)題,DMSA的使用可以很好地解決這些問(wèn)題。
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作者信息:
孫 恒,王仁平,蔡沅坤
(福州大學(xué) 物理與信息工程學(xué)院,福建 福州350000)