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EUV光刻機(jī)全球出貨量達(dá)57臺(tái)

2020-07-31
來(lái)源:半導(dǎo)體行業(yè)觀察
關(guān)鍵詞: IMEC 光刻 芯片

  IMEC是推動(dòng)半導(dǎo)體技術(shù)前進(jìn)的主要組織之一,日前,他們舉辦了一場(chǎng)線上論壇,談及了對(duì)芯片現(xiàn)狀和未來(lái)的看法。在演講中,ASML總裁則對(duì)光刻的發(fā)展進(jìn)行了演講。從他的PPT中可以看到,浸入式光刻在過(guò)去九年中增長(zhǎng)了兩倍。

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  而ASML計(jì)劃提高所有曝光工具每小時(shí)的晶圓數(shù)量。

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  與此同時(shí), 他指出,EUV繼續(xù)為ASML的客戶提高產(chǎn)量,迄今為止,他們的客戶已經(jīng)使用EUV光刻機(jī)曝光了超過(guò)1100萬(wàn)個(gè)EUV晶圓,并交付了57個(gè)3400x EUV系統(tǒng)(3400平臺(tái)是EUV生產(chǎn)平臺(tái))。

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  ASML計(jì)劃繼續(xù)提高EUV吞吐量,同時(shí)減少每個(gè)晶圓的總能量。尤其是2倍的能源節(jié)省,這吸引了大家的高度關(guān)注。他們還期望通過(guò)NXE3800系統(tǒng)達(dá)到每小時(shí)30mj / cm2的劑量通量,已達(dá)到最高每小時(shí)225個(gè)晶圓的生產(chǎn)能力!

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  在演講中,IMEC高管也分享了他們對(duì)行業(yè)的看法。

  據(jù)IMEC公司CEO Luc Van Den Hove表示,過(guò)去幾年來(lái),即使尺寸縮放速度變慢,但Design Technology Co Optimization(DTCO)也可以實(shí)現(xiàn)連續(xù)縮放。借助DTCO,工藝優(yōu)化已實(shí)現(xiàn)了標(biāo)準(zhǔn)邏輯單元軌道高度的減小。標(biāo)準(zhǔn)單元的高度是M2P( metal 2 pitch)乘以軌道(track)數(shù),而6 track cell 的高度代表了當(dāng)前的最新技術(shù)水平。

  在他的演講中,Luc概述了一個(gè)路線圖,其中包括6條軌道的FinFET,讓路給具有埋入式電源軌(buried power rails)的5軌道納米片,然后增加了用于實(shí)現(xiàn)4.5條軌道納米片的叉板(forksheets ),4條軌道CFET以及最終具有2D通道的CFET。

  他還強(qiáng)調(diào)了對(duì)功率,性能,面積和成本(PPAC)的需求。多年來(lái),基于功率,性能和面積(PPA)來(lái)表征前沿邏輯過(guò)程。例如,在最近的電話會(huì)議上,臺(tái)積電(TSMC)討論了他們的3nm工藝,即在相同功率下提供大約70%的邏輯密度,在相同性能下提高10-15%的速度,在相同性能下降低25-30%的功率。人們?cè)絹?lái)越認(rèn)識(shí)到,成本是新流程定義的必要要素。

  Imec CMOS技術(shù)高級(jí)副總裁Sri Samavedan介紹了Imec先進(jìn)的半導(dǎo)體技術(shù)發(fā)展的最新情況。他表示,隨著邏輯縮放繼續(xù)達(dá)到3納米及以下,EUV將不得不過(guò)渡到多圖案化,直到可獲得高NA EUV。

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  他還提出了與Luc Van Den Hove的演講中類似的邏輯縮放路線圖,但有更多細(xì)節(jié),例如,要進(jìn)入5軌道單元,需要將電源導(dǎo)軌作為埋藏式電源導(dǎo)軌(BPR)移入基板。

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  在3D NAND中,關(guān)鍵挑戰(zhàn)之一是如何繼續(xù)有效地添加更多層。隨著堆棧變得越來(lái)越高,圖案化變得越來(lái)越難。Imec一直在尋找釕(Ru)替代水平字線板的鎢(W)。Imec相信,Ru可以幫助將線材的厚度從目前的大約30nm減小到大約15nm。就個(gè)人而言,我認(rèn)為Ru太昂貴了,無(wú)法在3D NAND中實(shí)現(xiàn),但是替代材料的概念很重要。

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  他還談到了邏輯的2D材料,并提供了有關(guān)MoS2的一些數(shù)據(jù),這些數(shù)據(jù)可以實(shí)現(xiàn)更細(xì)的通道和更短的通道長(zhǎng)度。

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  最后,我發(fā)現(xiàn)用于DRAM的低溫沉積銦鎵鋅氧化物(IGZO)的選擇很有趣。在邏輯,NAND和DRAM這三個(gè)主要的半導(dǎo)體產(chǎn)品領(lǐng)域中,DRAM面臨著最未知/最困難的擴(kuò)展挑戰(zhàn)。低溫沉積的低漏電晶體管可以使訪問(wèn)晶體管和電容器堆疊在外圍邏輯上,從而增加DRAM密度。

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