《電子技術(shù)應(yīng)用》
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基于片上網(wǎng)絡(luò)改進(jìn)HT模型的測(cè)試方法及仿真
2015年電子技術(shù)應(yīng)用第8期
章玉珠,何怡剛,邱星星,范佳興,袁莉芬
合肥工業(yè)大學(xué) 電氣與自動(dòng)化工程學(xué)院,安徽 合肥230009
摘要: NoC結(jié)構(gòu)規(guī)模巨大,內(nèi)部電路互連非常復(fù)雜,NoC內(nèi)部串?dāng)_嚴(yán)重影響了片上系統(tǒng)的信號(hào)完整性?;诟倪M(jìn)HT模型提出一種串?dāng)_測(cè)試的方法,實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,在改進(jìn)的HT模型來(lái)中,N根傳輸線傳統(tǒng)串?dāng)_測(cè)試方法需要測(cè)試6N次,而此方法只需要18次,從而有效地減小了開銷?;诟倪M(jìn)的HT故障種類模型設(shè)計(jì)了一套基于改進(jìn)HT模型的測(cè)試代碼,根據(jù)測(cè)試代碼利用Pspice仿真軟件設(shè)計(jì)了一種測(cè)試代碼電路,該測(cè)試電路是利用16位數(shù)據(jù)選擇器和16進(jìn)制計(jì)數(shù)器構(gòu)成,并對(duì)測(cè)試電路進(jìn)行仿真測(cè)試,測(cè)試結(jié)果表明該電路能夠滿足測(cè)試要求并且具有可移植的優(yōu)點(diǎn)。
中圖分類號(hào): TN47
文獻(xiàn)標(biāo)識(shí)碼: A
DOI:10.16157/j.issn.0258-7998.2015.08.011

中文引用格式: 章玉珠,何怡剛,邱星星,等. 基于片上網(wǎng)絡(luò)改進(jìn)HT模型的測(cè)試方法及仿真[J].電子技術(shù)應(yīng)用,2015,41(8):40-42,46.
英文引用格式: Zhang Yuzhu,He Yigang,Qiu Xingxing,et al. Test method and simulation based on improved HT model in NoC[J].Application of Electronic Technique,2015,41(8):40-42,46.
Test method and simulation based on improved HT model in NoC
Zhang Yuzhu,He Yigang,Qiu Xingxing,F(xiàn)an Jiaxing,Yuan Lifen
School of Electrical Engineering and Automation,Hefei University of Technology,Hefei 230009,China
Abstract: As the scale of NoC is huge and the interconnection in NoC is complex,the crosstalk of NoC serious impact on the integrity of signal in NoC system.A new test method based on HT model was proposed in this paper for improved HT model with N transmission lines,the test time tradition method is 6N,while the test time of method in paper is 18. The method in paper can largely reduce test times and the cost of resource.A test codes based on improved HT model was designed and a new test circuit for these codes was built in paper.A 16-bit data selector and a 16-bit counter were used to build this circuit.The simulation was done by Pspice and the result showed that the test circuit satisfied the test requirements and had the advantage of portable.
Key words : network-on-chip;improved HT fault model;test times;crosstalk

    

0 引言

    隨著集成電路的制造工藝不斷高速發(fā)展,電子器件的特征尺寸進(jìn)入了納米時(shí)代,在未來(lái)的若干年之內(nèi),特征尺寸會(huì)進(jìn)一步縮小,集成電路的規(guī)模將進(jìn)一步擴(kuò)大[1-2]。微系統(tǒng)芯片的設(shè)計(jì)技術(shù)在近幾年得到了飛速發(fā)展,其規(guī)模已經(jīng)發(fā)展到了一定的程度,功能也比較強(qiáng)大。隨著集成電路工藝進(jìn)入納米時(shí)代,線寬和連線間距大大縮小,全局連線的延時(shí)會(huì)隨著工藝特征尺寸的下降而快速上升,這使得片上全局互連線路的可靠性惡化,并且相鄰互連線間的電容和電感耦合也對(duì)高速電路的通信產(chǎn)生了巨大的影響。SoC 己經(jīng)不能滿足幾十億晶體管的芯片需求,需要一種系統(tǒng)設(shè)計(jì)的架構(gòu)平臺(tái),即片上網(wǎng)絡(luò)(Network-on-Chip,NoC)。NoC是一種新的系統(tǒng)芯片結(jié)構(gòu),這種結(jié)構(gòu)能夠很好地解決SoC中的瓶頸問題[3]。

    目前很多學(xué)者對(duì)NoC串?dāng)_進(jìn)行了相關(guān)研究,并建立了串?dāng)_模型。MA[4]模型是由Michael Cuviello提出,這種模型是最常用也是最經(jīng)典的串?dāng)_模型,但MA模型只考慮了容性耦合。MT[5]模型是由MH Tehranipou提出,這種模型是對(duì)MA模型的擴(kuò)張,并且同時(shí)考慮了容性耦合和感性耦合。MDSI 故障模型是由Sunghoon Chun提出,這種模型考慮了奇模傳輸和偶模傳輸對(duì)串?dāng)_的影響,該模型定義了一個(gè)影響因子α,根據(jù)α大小來(lái)確定串?dāng)_影響[6]。HT[7]模型是由張金林提出,這種模型在MA模型的基礎(chǔ)之上除去冗余項(xiàng),而改進(jìn)的HT模型[8]是由姜書艷提出,這種模型進(jìn)一步優(yōu)化了HT模型,使其更簡(jiǎn)潔。針對(duì)這些故障模型出現(xiàn)許多故障測(cè)試方法,其中最常用的測(cè)試方法是基于最大攻擊線模型測(cè)試方法MAF[9],基本思想是把一根傳輸線作為受害線,其他的傳輸線都作為攻擊線,然后測(cè)試受害線上的信號(hào)受干擾情況。這種測(cè)試方法具有良好的優(yōu)點(diǎn),測(cè)試代碼簡(jiǎn)單并且能夠?qū)收线M(jìn)行100%測(cè)試。但這種測(cè)試方法需要大量的測(cè)試代碼,測(cè)試次數(shù)與傳輸線數(shù)目N有關(guān),測(cè)試次數(shù)大,從而帶來(lái)很大的測(cè)試開銷。本文基于改進(jìn)的HT模型基礎(chǔ)之上提出一種測(cè)試方法只需要進(jìn)行3輪循環(huán),測(cè)試18次即可達(dá)到測(cè)試目的,從而有效減小測(cè)試開銷。其次,根據(jù)改進(jìn)HT模型的故障特征設(shè)計(jì)了測(cè)試代碼生成電路,實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明這種測(cè)試電路能夠滿足測(cè)試要求,并且具有很好的移植能力,可以用于其他故障模型的測(cè)試。

1 基于改進(jìn)的HT模型串?dāng)_測(cè)試方法

    一般串?dāng)_故障檢測(cè)方法是把一根傳輸線作為受害線,其他的傳輸線都作為攻擊線,然后測(cè)試受害線上的信號(hào)受干擾情況。例如,在改進(jìn)的HT模型中,假設(shè)有N根傳輸線,改進(jìn)的HT模型總共有6種故障模式,總共測(cè)試的次數(shù)是6N。對(duì)于NoC超大規(guī)模集成電路來(lái)說(shuō)其缺點(diǎn)是測(cè)試次數(shù)多,開銷大。

    為了減小測(cè)試次數(shù),降低開銷,提出一種串?dāng)_測(cè)試方法。在闡述這種測(cè)試方法之前,先介紹一個(gè)一般性結(jié)論:在對(duì)傳輸線進(jìn)行串?dāng)_分析時(shí),只需考慮受害線兩側(cè) 2~3根攻擊線的影響[9]。根據(jù)這個(gè)結(jié)論,提出一種串?dāng)_測(cè)試方法,該測(cè)試方法考慮受害線兩側(cè)2根攻擊線的串?dāng)_影響。這種測(cè)試方法與傳統(tǒng)測(cè)試方法不同,不需要對(duì)所有傳輸線都進(jìn)行測(cè)試,只需3輪循環(huán)測(cè)試就能達(dá)到測(cè)試目標(biāo)。 傳輸線路簡(jiǎn)化圖如圖1所示。

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    其中實(shí)線表示受害線,虛線表示攻擊線。第一輪1號(hào)、4號(hào)、7號(hào)傳輸線作為受害線,其他2號(hào)、3號(hào)……作為攻擊線,根據(jù)一般性結(jié)論,只需要考慮2號(hào)、3號(hào)對(duì)1號(hào)串?dāng)_影響;2號(hào)、3號(hào)、5號(hào)、6號(hào)對(duì)4號(hào)串?dāng)_影響,以此類推。第二輪循環(huán),2號(hào)、5號(hào)傳輸線作為受害線,其他1號(hào)、3號(hào)、4號(hào)……作為攻擊線,只需要考慮1號(hào)、3號(hào)、4號(hào)對(duì)2號(hào)串?dāng)_影響;3號(hào)、4號(hào)、6號(hào)、7號(hào)對(duì)5號(hào)串?dāng)_影響,以此類推。第三輪循環(huán),3號(hào)、6號(hào)傳輸線作為受害線,其他1號(hào)、2號(hào)、4號(hào)……作為攻擊線,只需要考慮1號(hào)、2號(hào)、4號(hào)、5號(hào)對(duì)3號(hào)串?dāng)_影響;4號(hào)、5號(hào)、7號(hào)、8號(hào)對(duì)6號(hào)串?dāng)_影響,當(dāng)進(jìn)行3輪循環(huán)后就能完成所有情況的測(cè)試。

    對(duì)于改進(jìn)HT模型的6種故障模式來(lái)說(shuō),N根傳輸線傳統(tǒng)串?dāng)_測(cè)試方法需要測(cè)試6N次,而此方法只需要3*6=18次,對(duì)于NoC來(lái)說(shuō)傳輸線數(shù)目N很大,這樣這種方法就大大減小了測(cè)試次數(shù),從而很有效地減小了開銷。傳統(tǒng)方法和本文方法測(cè)試次數(shù)比較如圖2。

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    根據(jù)姜書艷提出的改進(jìn)HT模型設(shè)計(jì)了并行化測(cè)試序列如表1。本文提出的測(cè)試序列與測(cè)試傳輸線根數(shù)無(wú)關(guān),只需要8個(gè)測(cè)試序列(T0~T7)即可,有效減少測(cè)試開銷,縮短檢測(cè)時(shí)間,從而降低了測(cè)試數(shù)據(jù)的冗余度,而且這種測(cè)試序列能夠很方便地進(jìn)行移植與擴(kuò)展。

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2 改進(jìn)的HT模型仿真測(cè)試

2.1 測(cè)試序列發(fā)生器

    根據(jù)表1的測(cè)試序列代碼,利用Pspice軟件搭建序列發(fā)生器,如圖3所示。該序列發(fā)生器生成的測(cè)試代碼符合改進(jìn)的HT模型所需要的測(cè)試代碼要求:攻擊線1測(cè)試代碼為01010101,同理,另一條攻擊線的測(cè)試代碼為01010010,受害線的測(cè)試代碼為0111010。該測(cè)試序列可以根據(jù)不同的故障模型需要的測(cè)試代碼改變芯片74150的管腳高低電平,從而可以用于其他故障模型的測(cè)試代碼生成,具有很強(qiáng)的移植能力。

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2.2 測(cè)試仿真及分析

    測(cè)試仿真電路搭建的3-傳輸線耦合電路[10]模型如圖4。

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    測(cè)試仿真結(jié)果如圖5~圖8所示,圖5和圖6分別是攻擊線1和攻擊線2的波形圖,圖7和圖8分別是受害線被攻擊前和被攻擊后的波形。這里主要分析受害線的受串?dāng)_情況。分析比較圖7和圖8波形:在3.05 μs和3.90 μs之間出現(xiàn)明顯下降脈沖;在第1.05 μs與1.75 μs之間和6.07 μs與6.70 μs之間受害線在被攻擊前是從低電平到高電平跳變,而被攻擊后出現(xiàn)明顯的上升延遲;在第4.03 μs與4.85 μs之間和第7.05 μs與7.75 μs之間受害線在被攻擊前是從高電平到低電平跳變,而被攻擊后出現(xiàn)明顯下降延遲,仿真結(jié)果符合理論。

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3 結(jié)論

    本文簡(jiǎn)單介紹了NoC中串?dāng)_問題以及相關(guān)串?dāng)_模型,并基于改進(jìn)HT模型提出一種串?dāng)_測(cè)試的方法。與一般測(cè)試方法相比,文中方法能夠有效地降低測(cè)試次數(shù),減小數(shù)據(jù)冗余,從而達(dá)到降低開銷的目的。根據(jù)改進(jìn)的HT故障種類模型設(shè)計(jì)了一套基于該模型的測(cè)試代碼,根據(jù)測(cè)試代碼設(shè)計(jì)了一種測(cè)試代碼電路,并對(duì)測(cè)試電路進(jìn)行仿真測(cè)試。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,這種測(cè)試電路能夠滿足測(cè)試要求,并且可以用于其他故障模型的測(cè)試,具有很好的移植能力。

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