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解決方案

自适应计算：走进不断扩张的Versal世界[人工智能][工业自动化]

2021 年 4 月，业界领先的 Versal™ AI Core 和 Versal Prime 系列器件开始全面量产发货，这也意味着赛灵思继FPGA 之后而打造的ACAP 自适应计算加速平台谢列，取得了令人激动的阶段性成果，

發(fā)表于：2021/11/24 下午5:58:26

连获“双奖”，Xilinx AI 团队实力绽放国际视觉顶会[人工智能][汽车电子]

CVPR 和ICCV 是全球排名前三的计算机视觉学术顶级会议中的两个（第三个是ECCV，即欧洲计算机视觉会议），两大顶会相继授予的双重荣誉，无疑是对赛灵思 AI 产品团队在全球竞争领域技术实力和创新能力的高度认可和有力证明。

發(fā)表于：2021/11/24 下午5:51:07

【技术大咖测试笔记系列】之九：新型SMU克服低电流容性设置的棘手测试挑战[测试测量][工业自动化]

在测试设置中使用长电缆或容性卡盘时，测试仪器输出的电容会提高，导致测量不准确或不稳定，尤其是非常灵敏的弱电测量，因为它同时还要提供或扫描DC电压。为解决这些挑战，泰克科技旗下公司吉时利为Keithley 4200A-SCS推出了两种新的源测量单元(SMU)模块，即使在高测试连接电容的应用中，仍能进行稳定的弱电测量。

發(fā)表于：2021/11/24 下午2:15:50

从物联网工厂到手术室：如何设计更好的通信系统[通信与网络][工业自动化]

工业4.0的基础是可靠的通信基础设施。决策者通过基础设施从机器、现场设备和工厂提取数据。要保证机器人和人机接口的可靠性，先要深入了解底层技术选项。

發(fā)表于：2021/11/24 上午11:58:00

汽车雷达带来360度环绕安全屏障[MEMS|传感技术][汽车电子]

如今，雷达是一项核心汽车技术，半导体供应商现在提供高度优化的芯片组，以解决行业向77GHz频段转移的问题，该频段可提供4GHz扫描带宽。

發(fā)表于：2021/11/24 上午11:33:38

人工智能新力量意法半导体Deep Edge AI 应运而生[人工智能][消费电子]

AI（人工智能）起源于达特茅斯学院于1956年举办的夏季研讨会。在该会议上，“人工智能”一词首次被正式提出。计算能力的技术突破推动了人工智能一轮又一轮的发展。近年来，随着大数据的可用性提高，第三轮人工智能发展浪潮已经来临。2015年，基于深度学习的人工智能算法在ImageNet竞赛的图像识别精度方面首次超过人类，人工智能在发展道路上高歌猛进。随着计算机视觉技术研究取得突破，深度学习已经在语音识别、自然语言处理等不同研究领域都获得了巨大的成功。现在，人工智能已经在生活中的方方面面显示出巨大潜力。

發(fā)表于：2021/11/18 下午10:23:00

瑞萨电子推出基于新型R-Car S4 SoC和PMIC的汽车网关解决方案用于下一代汽车计算机[其他][汽车电子]

　　全球半导体解决方案供应商瑞萨电子集团（TSE：6723）今日宣布，推出新型汽车网关解决方案，该方案基于R-Car S4片上系统（SoC）和电源管理IC（PMIC），面向下一代汽车计算机、通信网关、域服务器和应用服务器。伴随E/E架构向域和区的发展，瑞萨全新解决方案满足汽车行业对高性能、高速网络、高网络安全和高功能安全等要求。这一解决方案通过软件的复用性，以及与R-Car S4无缝配合的新款卓越PMIC，显著提升开发效率。

發(fā)表于：2021/11/18 下午2:52:01

四大能量收集技术助力突破物联网设备供电困境[电源技术][物联网]

长期以来，物联网所形成的巨大市场和数以十亿计的庞大设备数量已经逐渐为人们所熟知。同时，可移动的物联网设备正在变得越来越多，有线电源也并非长久之计。随着物联网市场的持续蓬勃增长，设备的供能方式、电池问题正在成为新的挑战。

發(fā)表于：2021/11/18 上午10:29:36

指定支持Wi-Fi®的MCU时的注意事项[嵌入式技术][物联网]

工业物联网的发展趋势是在一个SoC而非多个离散器件中执行更多功能，以精简物料清单、降低设计风险、减少占用空间。Wi-Fi® MCU即是一个典型，它将Wi-Fi连接与处理器及所需GPIO集成在一起，以满足多种应用的需求。在指定其中一个器件时，需要考虑多个因素，并需审慎进行选择，因此务必对这些器件有所了解。

發(fā)表于：2021/11/18 上午9:48:58

面对高速链路测试重重挑战，轻松实现PCIe 5自动多路测试[测试测量][通信网络]

全面表征高速链路，要求透过被测链路的多条不同通路执行发射机（Tx）和接收机（Rx）测量，这给全自动测试环境带来了挑战。PCI Express端口的通路宽度一般为x1、x4、x8和x16，这给全自动Tx或Rx测试带来了挑战。通过在测试通道中包括RF开关，我们可以在不过度改变DUT和测试设备电缆的情况下实现多路测试。为使RF开关的电气影响达到最小，确保测试对规范要求或验证测试计划是真实的。本文描述了使用Mini-Circuits RF开关进行Gen5 （32 GT/s）多路测试，并就设置、自动测试提供了一些整体指引，并就通常遇到的挑战提出了建议。

發(fā)表于：2021/11/16 下午9:17:00