基于芯粒的Flash FPGA驱动测试技术
所屬分類：技术论文
上傳者：wwei
文檔大?。?span>3829 K
標簽： 芯粒 现场可编程门阵列 主控寄存器
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文檔介紹：针对基于芯粒的Flash FPGA驱动覆盖率测试，利用Flash FPGA的系统控制寄存器与边界扫描寄存器模块，配置FPGA不同的驱动模式，并通过传统的单芯片Flash单元配置进行对比验证。实验结果表明，基于芯粒的Flash FPGA控制寄存器配置的驱动性能与传统的单芯片Flash单元配置一致，测试时间缩短到1/3。
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