基于边界扫描的多芯粒异构集成系统互连线测试方法
所屬分類：技术论文
上傳者：wwei
文檔大?。?span>5264 K
標(biāo)簽： 芯粒 边界扫描 互连线测试
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文檔介紹：针对多芯粒异构复杂结构采用传统的功能测试方案无法准确定位内部互连故障，提出一种基于边界扫描的多芯粒互连线测试方法，实现对芯粒芯片互连故障的检测。基于IEEE 1149.1边界扫描协议与互连线测试优化算法，通过ATE测试系统识别内部互连故障线路，从而准确检测出芯片故障缺陷。与传统测试方法相比，基于边界扫描的多芯粒互连线测试方法稳定可靠，能够精确定位芯片内部互连故障，大幅提高测试效率，保证芯粒系统的可靠性应用。
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