高精度高擺幅多工位ADC測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)
所屬分類(lèi)：技術(shù)論文
上傳者：zhoubin333
文檔大?。?span>5794 K
標(biāo)簽： 自動(dòng)測(cè)試設(shè)備 A/D 轉(zhuǎn)換器 動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試
所需積分：0分積分不夠怎么辦？
文檔介紹：基于V93000 ATE設(shè)計(jì)了一種采用外加電源升壓變換模塊及可變?cè)鲆鎯x器儀表運(yùn)算放大器，以解決大輸入擺幅高精度多工位ADC的量產(chǎn)測(cè)試需求的測(cè)試方案。理論分析和測(cè)試驗(yàn)證結(jié)果表明，該ADC測(cè)試系統(tǒng)可分別產(chǎn)生峰峰值超過(guò)29 V的Ramp波和正弦波測(cè)試信號(hào)，測(cè)試信號(hào)SNR優(yōu)于105 dB、THD優(yōu)于-103 dB，可以滿足16 bit、±10 V甚至以上高輸入擺幅多工位ADC的大批量量產(chǎn)測(cè)試需求。
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