一種片上嵌入式Flash測(cè)試接口的設(shè)計(jì)
所屬分類：技術(shù)論文
上傳者：aetmagazine
文檔大?。?span>679 K
標(biāo)簽： Flash 測(cè)試接口 測(cè)試速度
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文檔介紹：Flash存儲(chǔ)器具有功耗低、存儲(chǔ)容量大、體積小等特點(diǎn),被廣泛應(yīng)用于嵌入式系統(tǒng)。目前Flash存儲(chǔ)器多數(shù)使用串行接口進(jìn)行擦寫測(cè)試，存在著測(cè)試效率低、測(cè)試成本高等問題。針對(duì)以上問題，設(shè)計(jì)并實(shí)現(xiàn)了一種片上嵌入式Flash的測(cè)試接口。結(jié)合片上嵌入式Flash的接口特點(diǎn)和時(shí)序要求，設(shè)計(jì)了基于多線SPI的測(cè)試接口，并在確保穩(wěn)定性的情況下實(shí)現(xiàn)了對(duì)多塊Flash存儲(chǔ)器并行測(cè)試的設(shè)計(jì)，提高了測(cè)試速度。通過NCverilog仿真結(jié)果表明，該設(shè)計(jì)有效縮短了測(cè)試時(shí)間，達(dá)到了測(cè)試要求，并成功應(yīng)用于一款32位浮點(diǎn)微處理器中。
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