中央處理器安全測試與自修復技術研究
所屬分類：技術論文
上傳者：aetmagazine
文檔大?。?span>635 K
標簽： 中央處理器 故障注入 安全測試
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文檔介紹：中央處理器在工業(yè)控制領域起到重要作用，其正常工作是工業(yè)控制中的重要穩(wěn)定運行保障。主要研究中央處理器的安全測試與自修復相關技術。從故障注入到故障測試再到自修復，對相關安全技術作了比較介紹與分類總結，包括硬軟件的故障注入技術、掃描鏈、內建自測試、TSV等故障測試方法，以及以替代修復和容錯自修復技術。最后提出中央處理器安全協同模型，對各個技術的基本原理和創(chuàng)新點做出歸納總結，為未來中央處理器的故障處理技術發(fā)展提供安全設計全參考，在保證安全和性能的同時降低成本和能耗，助力工控設備安全穩(wěn)定運行。
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