基于老化特征化提取進(jìn)行時(shí)序分析的解決方案 | |
所屬分類:技術(shù)論文 | |
上傳者:aetmagazine | |
文檔大?。?span>675 K | |
標(biāo)簽: 老化標(biāo)準(zhǔn)單元庫 Cadence Liberate Aging Aware STA | |
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文檔介紹:基于Cadence的Liberate + Tempus解決方案,采用一種先進(jìn)的標(biāo)準(zhǔn)單元老化特征化的方法,同時(shí)考慮了偏置溫度不穩(wěn)定性(Bias Temperatrure Instability,BTI)和熱載流子注入(Hot Carrier Injection,HCI)老化效應(yīng),得到標(biāo)準(zhǔn)單元老化時(shí)序庫,用于Tempus進(jìn)行考慮老化的靜態(tài)時(shí)序分析(Aging-aware Static Timing Analysis,Aging-aware STA)。產(chǎn)生一套先進(jìn)的標(biāo)準(zhǔn)單元老化時(shí)序庫,能夠針對(duì)不同標(biāo)準(zhǔn)單元不同傳輸路徑,表征一定范圍的老化應(yīng)力條件的時(shí)序特征,改善了傳統(tǒng)添加全局時(shí)序減免值導(dǎo)致電路PPA(Performance/Power/Area)難以收斂的問題,同時(shí)只需要調(diào)用一套標(biāo)準(zhǔn)單元庫也使STA更加簡潔易操作。 | |
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