綜合電子系統(tǒng)重構(gòu)時間分析方法研究
所屬分類：技術(shù)論文
上傳者：aetmagazine
文檔大小：464 K
標(biāo)簽： 綜合電子系統(tǒng) 重構(gòu) 時間分析
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文檔介紹：針對綜合電子系統(tǒng)重構(gòu)的不確定性、多樣性導(dǎo)致的系統(tǒng)狀態(tài)復(fù)雜的問題，對不同重構(gòu)模式下的重構(gòu)時間進行分析。首先研究系統(tǒng)架構(gòu)和軟硬件配置，建立系統(tǒng)重構(gòu)和重構(gòu)時間模型，提出應(yīng)用遷移優(yōu)化算法。然后通過綜合電子系統(tǒng)重構(gòu)驗證平臺模擬故障，分析計算不同類型故障導(dǎo)致系統(tǒng)重構(gòu)消耗的時間。實驗證明，不同類型的故障導(dǎo)致的系統(tǒng)重構(gòu)時間不同，優(yōu)化重構(gòu)藍圖和遷移過程可以有效縮短重構(gòu)時間。
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