基于改進(jìn)Faster R-CNN的面板缺陷檢測(cè)算法
所屬分類(lèi)：技術(shù)論文
上傳者：aetmagazine
文檔大小：935 K
標(biāo)簽： 面板缺陷 Faster R-CNN 目標(biāo)檢測(cè)
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文檔介紹：針對(duì)面板表面缺陷檢測(cè)存在精度低、效率低等問(wèn)題，提出了一種基于Faster R-CNN的優(yōu)化缺陷檢測(cè)的算法。該方法通過(guò)在特征融合層添加不降維的局部自適應(yīng)跨通道卷積，以增加通道交叉的特征映射；且在骨干特征提取網(wǎng)絡(luò)后加入CBAM注意力網(wǎng)絡(luò)，從而捕獲特征圖的長(zhǎng)期特征依賴(lài)關(guān)系。并分析了缺陷數(shù)據(jù)集樣本寬高比的差異性，設(shè)定錨框生成大小，結(jié)合DIoU-NMS建議框篩選機(jī)制以提升先驗(yàn)框與目標(biāo)框的匹配率。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明，優(yōu)化后網(wǎng)絡(luò)模型的精確率與識(shí)別率均得到很大提升。
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