基于單因素方差分析的密碼算法統(tǒng)計檢驗
所屬分類：技術論文
上傳者：aetmagazine
文檔大?。?span>434 K
標簽： 單因素方差分析 密碼算法 統(tǒng)計檢驗
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文檔介紹：在密碼學范疇中，隨機序列常作為密鑰、初始向量或算法參數(shù)使用。隨機序列的隨機性最終決定了整個密碼系統(tǒng)的安全性，因此在密碼技術中占有重要位置。對于良好的密碼算法產(chǎn)生的密文序列，應無法通過統(tǒng)計學方法進行區(qū)分。首先對7種經(jīng)典密碼算法生成的密文序列進行NIST隨機性檢驗，統(tǒng)計失敗次數(shù)；然后關于密碼算法進行單因素方差分析，檢驗結果在統(tǒng)計學上無顯著差異。此統(tǒng)計檢驗可作為評價密碼算法好壞的指標之一。
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