頭條 【熱門活動】2025年基礎(chǔ)電子測試測量方案培訓(xùn) 2025年基礎(chǔ)電子測試測量方案培訓(xùn)，第一課：數(shù)字萬用表實操基礎(chǔ) ；第二課：直流電源與信號源操作；第三課：示波器基礎(chǔ)操作；第四課：示波器進(jìn)階與儀器聯(lián)動 最新資訊 傳感器在機械制造中的應(yīng)用 在機械制造中，傳感器技術(shù)是實現(xiàn)測試與自動控制的重要環(huán)節(jié)。在機械制造測試系統(tǒng)中，被作為一次儀表定位，其主要特征是能準(zhǔn)確傳遞和檢測出某一形態(tài)的信息，并將其轉(zhuǎn)換成另一形態(tài)的信息。具體地說，傳感器是指那些對被測對象的某一確定的信息具有感受（或響應(yīng)）與檢出功能，并使之按照一定規(guī)律轉(zhuǎn)換成與之對應(yīng)的可輸出信號的元器件或裝置。 發(fā)表于：2010/12/6 基于鉑電阻的數(shù)字溫度測量系統(tǒng)設(shè)計 在某企業(yè)開發(fā)的加工控制系統(tǒng)中，溫度范圍是-100℃～600℃，測量誤差小于1％。針對本系統(tǒng)所需的溫度測量要求，選用了精度高的鉑電阻作為溫度傳感器，模數(shù)轉(zhuǎn)換使用 MSP430F149內(nèi)部的12位分辨率的ADC模塊。 發(fā)表于：2010/12/6 抖動測量的基本原理 當(dāng)Altera開始開發(fā)自己的40nmStratixIVFPGA時，該公司的工程師在設(shè)計與測試前沿的很多方面都面臨挑戰(zhàn)。用Altera首席架構(gòu)師兼著名工程師MikePengLi博士的話說，建立40nm器件的動力是要充分利用摩爾定律所表述的技術(shù)真理，以在每只芯片中裝入更多的邏輯、存儲器和接口。 發(fā)表于：2010/12/6 超聲波測距系統(tǒng)的設(shè)計 超聲波是一種頻率在20KHz以上的機械波，在空氣中的傳播速度約為340 m／s(20°C時)。超聲波可由超聲波傳感器產(chǎn)生，常用的超聲波傳感器兩大類：一類是采用電氣方式產(chǎn)生超聲波，一類是用機械方式產(chǎn)生超聲波，目前較為常用的是壓電式超聲波傳感器。 發(fā)表于：2010/12/6 HSPA+終端測試概述和方案介紹 當(dāng)前，為了提高下行和上行分組數(shù)據(jù)的速率和容量，已經(jīng)在全球范圍內(nèi)大規(guī)模地部署UMTS高速下行分組接入（HSDPA）和高速上行分組接入（HSUPA）網(wǎng)絡(luò)。 發(fā)表于：2010/12/6 測試3G手機的DigRF DigRF準(zhǔn)備替換RF與基帶半導(dǎo)體器件之間的兩種主要形式的數(shù)據(jù)通信路徑：模擬信令，以及針對具體設(shè)計的私有數(shù)字信令（并行或串行）。MIPI（移動業(yè)處理器接口）聯(lián)盟正在致力于采用DigRF（數(shù)字射頻）標(biāo)準(zhǔn)，用一種基于分組的公共數(shù)字串行接口代替各種類型的I/Q（同相位/正交相位）信令接口。 發(fā)表于：2010/12/6 藥片包裝缺損檢測系統(tǒng)中機器視覺技術(shù)應(yīng)用 介紹了機器視覺的概念及基于機器視覺技術(shù)的藥片包裝缺損檢測系統(tǒng)，并給出了系統(tǒng)的硬件組成、控制系統(tǒng)軟件模塊結(jié)構(gòu)及其工作過程。 發(fā)表于：2010/12/6 基于CAN總線的信息采集系統(tǒng)設(shè)計 為解決某型衛(wèi)星信息采集系統(tǒng)中陀螺組合數(shù)據(jù)等的實時通訊問題，提出了利用CAN總線實現(xiàn)整個信息采集系統(tǒng)設(shè)計。與一般信息采集系統(tǒng)相比，該系統(tǒng)下位機采用TMS320F2812型DSP，利用其eCAN模塊作為數(shù)據(jù)發(fā)送模塊，上位機采用工控機，其中ADLINK PCI／cPCI-7841 CAN總線接口卡作為數(shù)據(jù)接收模塊，并在工控機中實時處理接收到的數(shù)據(jù)，更可靠地完成了信息采集及實時監(jiān)測。實驗結(jié)果表明，該系統(tǒng)信息采集實時性強、準(zhǔn)確穩(wěn)定。 發(fā)表于：2010/12/6 圖像識別技術(shù)在印刷線路板精密測試中的應(yīng)用 隨著信息產(chǎn)業(yè)和電子技術(shù)的發(fā)展，PCB(PrintedCircuit Board)線路板的制造技術(shù)得到了發(fā)展。傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡目測法由于其自身缺陷已不能適用于PCB板的精密檢測?；趫D像識別的精密檢測是現(xiàn)代測量技術(shù)的發(fā)展方向。 發(fā)表于：2010/12/6 CCD微米級圓鋼光電測徑儀設(shè)計 提出了線陣CCD微米級非接觸式圓鋼光電測徑儀的設(shè)計方案，并以ARM微處理器和單片機為核心實現(xiàn)了設(shè)計；解決了傳統(tǒng)圓鋼測徑方法接觸式測量的局限問題，具有結(jié)構(gòu)簡單、小型化、非接觸、精度高等特點。實驗結(jié)果表明，該系統(tǒng)實現(xiàn)了CCD非接觸式圓鋼光電測徑，測量結(jié)果準(zhǔn)確、精度高、穩(wěn)定性好，且可直接方便地顯示測量結(jié)果。 發(fā)表于：2010/12/6 ?…539540541542543544545546547548…?
