頭條 是德科技XR8示波器平台开创AI时代信号表征新纪元 2026年3月5日，是德科技在北京隆重发布了全新的XR8实时示波器平台和基于该平台的首款产品Infiniium XR804KA。 最新資訊 拓普测控基于Internet的分布式远程监测系统 随着计算机网络技术的发展和人们对数据采集系统的规模、数据处理速度和资源共享要求的不断提高，测控系统的设计也由单设备模式向多设备分布测量模式发展，成为具有互操作性、网络化、开放性、分散性、智能化的测控系统。随着以Internet为代表的网络技术的出现，网络化测量技术与具备网络功能的新型测试仪器也应运而生。 發(fā)表于：2011/1/1 汉高中国等设备、材料厂商相约6月滨海之城亮剑首届环渤海电子制造设备及材料展览会 在滨海新区举办的首届环渤海电子制造设备及材料展览会汇集众多电子制造、设备及材料厂商的专业买家，致力于搭建一个国际电子制造业先进技术和设备展示交流、商贸合作洽谈的高价值产业平台。招展启动不久，就有众多厂商咨询，中鼎高科、瑞安丰日、泰德激光、大族激光、七海光电、3M、拜耳等众多企业纷纷确立参展意向。而汉高中国更是一举当先，与组委会早早签订特装展位。 發(fā)表于：2010/12/31 基于CPLD的线阵CCD数据采集系统技术研究 线阵CCD(Charge Coupled Device)越来越广泛地被应用到工业、军事、民用行业。采用CCD数据采集卡和微机相结合，对被测图像信息进行快速采样、存储及数据处理，是线阵CCD数据采集发展的新方向。配以适当的光学系统，可以实现光－机－电－算一体化设计。 發(fā)表于：2010/12/31 挑战毫微安电流测量技术 几千种应用都需要测试小电流的电路，最常见的是测量二极管受光照射所产生的光电电流。一些科学应用（如 CT 扫描仪、气相色谱仪、光电倍增管与粒子和波束监控等）都需要小电流的测量。除了这些直接应用以外，半导体、传感器甚至电线的制造商都必须测量极小电流，以确定器件的特性。泄漏电流、绝缘电阻以及其它参数的测量都需要一致、精确的测量，以便建立数据表规格。 發(fā)表于：2010/12/31 芳香气体透过性检测方法 芳香气体对于包装材料的渗透过程与常规气体、水蒸气的渗透过程不同，然而包装材料的芳香气体透过量却能够成为左右产品销量的关键，因此市场对于检测芳香气体透过性的需求增长很快。Labthink气味渗透实验室自建立之初就致力于进行芳香气体透过性的研究和检测，同时为客户提供检测服务，为有香味保存要求的包装在材料选择以及结构设计方面提供更多的支持。 發(fā)表于：2010/12/31 基于CPLD和89S51的多功能信号测量仪 测频是最基本的电子测量技术。常用的测频方法有较大的局限性，其测量精度是随被测信号频率的下降而降低的，并且被测信号计数则产生±1个数字误差。而采用等精度频率测量方法测量精确，测量精度保持恒定；并且与CPLD(复杂可编程逻辑器件)相结合可使测频范围达到0.1 Hz～100 MHz，测频全域相对误差恒为1／1000。 發(fā)表于：2010/12/31 自动量程万用表设计方案 这里在测量电压和电流时，选择内部参考源1.25V，这样，当外部待测电压为0.625V时，AD采样值为65535，当待测电压为－0.625时，AD采样值为0。由于设计的最小量程为0.2V，故需要将其放大到0.625V，使其满量程，然后根据显示的位数进行转换即0－20000对应0-32767。实际的最小分辨率是0.2/32767V＝6微伏。 發(fā)表于：2010/12/31 基于VXI/GPIB总线的通信设备测试诊断系统 随着科学技术尤其电子技术的迅速发展，通信设备功能越来越强大，种类越来越繁多，对通信设备的维修测试提出了更高的要求。通信设备传统的维修主要采用分立测试仪器的方式来进行，如果实现多种通信设备的维修测试，往往需要很多分立的专用测试测量仪器，维护保障方式效率低，测试覆盖率、故障隔离率较低。 發(fā)表于：2010/12/31 在线传感器突变信号的检测与区分 传感器输出的突变信号包含着很重要的故障信息,突变原因不同，突变信号的频率组成不同．对于时间常数较大的被控对象，通常由给定输入变化、干扰变化、控制器故障及执行器故障引起的传感器突变信号中，一般只有低频成份.被控对象故障引起的突变信号中，一般也只有低频成份．由外部电磁场干扰引起的突变信号一般为脉冲信号，包含低频成份和较多的高频成份．由传感器偏差故障的突变信号中，除含有低频成份外，还含有少量的高频分量. 發(fā)表于：2010/12/31 一种测量石英晶体谐振器静电容的新方法 石英晶体谐振器（以下简称为石英晶体）作为一种性能优良的频率基准和时钟源在电子领域有着广泛应用。石英晶体的中间测试在石英晶体的生产中是处于微调和封装之间的工序，要求对石英晶体的基本电参数进行测量，以保证产品最终质量。在石英晶体的中间测试中，需要测量串联谐振频率、串联谐振电阻、负载谐振频率、负载谐振电阻、静电容、动电容、频率牵引灵敏度和DLD等参数。其中，静电容C0主要由石英晶体两端所镀银膜决定，表征了石英晶体的静态特性，与石英晶体的串联谐振频率和负载谐振频率等应用指标密切相关。根据静电容和其它参数的关系，还可以计算出负载谐振电阻、动电容、频率牵引灵敏度和DLD等参数的值，这在实际测量中是经常采用的方法。静电容的测量是石英晶体中间测试的重要内容。目前，IEC（国际电工委员会）所推荐的石英晶体测量的标准方法是π网络零相位法。在该方法中，未规定测量静电容的标准方法。若采用谐振法、交流电桥法等常用方法来测量静电容，会增加整个测量系统的复杂性，并且对谐振频率的测量产生不利影响。本课题提出了一种基于π网络零相位法的测量石英晶体静电容的新方法，并据此设计制作了实验测量系统。 發(fā)表于：2010/12/30 <…521522523524525526527528529530…>
