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【熱門活動(dòng)】2025年基礎(chǔ)電子測(cè)試測(cè)量方案培訓(xùn)

【熱門活動(dòng)】2025年基礎(chǔ)電子測(cè)試測(cè)量方案培訓(xùn)

2025年基礎(chǔ)電子測(cè)試測(cè)量方案培訓(xùn)，第一課：數(shù)字萬用表實(shí)操基礎(chǔ) ；第二課：直流電源與信號(hào)源操作；第三課：示波器基礎(chǔ)操作；第四課：示波器進(jìn)階與儀器聯(lián)動(dòng)

防腐監(jiān)測(cè)儀的設(shè)計(jì)與應(yīng)用

介紹了89C52單片機(jī)的防腐監(jiān)測(cè)儀的設(shè)計(jì)開發(fā)過程。介紹了一個(gè)對(duì)微電流進(jìn)行采集、轉(zhuǎn)換、顯示、儲(chǔ)存的一套完整系統(tǒng)。該系統(tǒng)的工作原理是首先通過傳感器采集微電流信號(hào)，再進(jìn)行放大后送到A/D轉(zhuǎn)換芯片中進(jìn)行模數(shù)轉(zhuǎn)換得到對(duì)應(yīng)的數(shù)字信號(hào)，利用AT89C52單片機(jī)對(duì)此信號(hào)進(jìn)行處理，結(jié)合按鍵輸入，在液晶顯示屏上實(shí)時(shí)顯示當(dāng)前的腐蝕電流以及對(duì)應(yīng)的腐蝕度，同時(shí)判斷檢測(cè)卡槽是否有卡，在有卡的情況下，利用I2C串行通訊技術(shù)每隔一分鐘將數(shù)據(jù)送入IC卡進(jìn)行存儲(chǔ)，實(shí)現(xiàn)對(duì)一段時(shí)間內(nèi)微電流的監(jiān)測(cè)。最后通過基于VB的上位機(jī)系統(tǒng)讀卡，把IC卡里的數(shù)據(jù)導(dǎo)入計(jì)算機(jī)存檔。該系統(tǒng)實(shí)際應(yīng)用效果良好。

發(fā)表于：2011/1/7

軍用與民用環(huán)境試驗(yàn)技術(shù)的差異與接軌

概述了國內(nèi)外軍用與民用環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)的差異，以及它們相互借鑒和滲透的發(fā)展趨勢(shì)，并結(jié)合美國軍用標(biāo)準(zhǔn)體系改革的思路，提出了國軍標(biāo)GJB 150修訂的幾點(diǎn)建議。

發(fā)表于：2011/1/7

綜合儀器方法解決棘手的系統(tǒng)級(jí)測(cè)試

當(dāng)今的電子器件和產(chǎn)品在以比以往更快的速度發(fā)展，在許多商業(yè)應(yīng)用中，從設(shè)計(jì)到生產(chǎn)的生命周期縮短到僅有6個(gè)月。另外，設(shè)備內(nèi)含和拓?fù)湔龔膯我幌蚨喙δ芷骷D(zhuǎn)化進(jìn)而涉及整個(gè)子系統(tǒng)和系統(tǒng)，并常常作為單一方案(例如智能電話和iPhone那樣的設(shè)備)。

發(fā)表于：2011/1/7

基于嵌入式系統(tǒng)的樁基礎(chǔ)檢測(cè)儀的研制

近年來,以波動(dòng)應(yīng)力理論為基礎(chǔ)的樁動(dòng)測(cè)技術(shù)已獲得廣泛應(yīng)用。它的基本原理是樁頂受到樁錘沖擊后,根據(jù)樁頂實(shí)測(cè)力和加速度數(shù)據(jù)分析樁的完整性?；诖朔N方法的測(cè)樁儀設(shè)備輕便、靈活，運(yùn)輸和現(xiàn)場(chǎng)安裝的工作量小，測(cè)量效率高，耗時(shí)短，不易發(fā)生安全事故。

發(fā)表于：2011/1/7

單片機(jī)智能頻率信號(hào)裝置

在電力系統(tǒng)發(fā)電機(jī)組的調(diào)試試驗(yàn)工作及其它工程實(shí)踐中，特別是旋轉(zhuǎn)機(jī)械的調(diào)試工作中，廣泛使用低頻信號(hào)發(fā)生源。在以往的實(shí)踐中，大量使用的為由晶體管組成的低頻信號(hào)發(fā)生器或由電子管組成的工頻信號(hào)源；這些儀器體大笨重，攜帶困難；同時(shí)模擬器件隨時(shí)間和溫度的漂移使輸出信號(hào)不穩(wěn)定，給調(diào)試工作帶來了極大的不便。此外，在旋轉(zhuǎn)機(jī)械的起動(dòng)、停止和試運(yùn)轉(zhuǎn)過程中，還需要測(cè)量其轉(zhuǎn)速（頻率）及記錄其變化過程。本文介紹一種由單片機(jī)組成的同時(shí)兼具信號(hào)發(fā)生和頻率測(cè)量的智能信號(hào)裝置，它充分發(fā)揮單片機(jī)智能控制的特長，具有體積小、重量輕、能發(fā)生超低頻信號(hào)、可編程模擬旋轉(zhuǎn)機(jī)械的動(dòng)態(tài)過程等一系列優(yōu)點(diǎn)。

發(fā)表于：2011/1/7

如何用函數(shù)信號(hào)發(fā)生器產(chǎn)生低占空比的信號(hào)

如果您要表征數(shù)字器件特性，通常會(huì)用脈沖發(fā)生器產(chǎn)生所需要的信號(hào)。但對(duì)于像微控制器這樣的低頻應(yīng)用，您可使用較便宜的通用函數(shù)發(fā)生器產(chǎn)生低占空比信號(hào)。

發(fā)表于：2011/1/7

基于示波器多重觸發(fā)功能的串行測(cè)量

觸發(fā)是在屏幕上播放穩(wěn)定的重復(fù)波形的關(guān)鍵，同時(shí)也為捕獲一次性事件提供了一個(gè)有效的工具。隨著數(shù)字示波器的出現(xiàn)，觸發(fā)功能得到了許多新的擴(kuò)展。

發(fā)表于：2011/1/7

分布式測(cè)試系統(tǒng)的一種網(wǎng)絡(luò)通信設(shè)計(jì)

在測(cè)試系統(tǒng)中，常需要對(duì)多臺(tái)儀器設(shè)備進(jìn)行集中控制，并對(duì)它們的數(shù)據(jù)進(jìn)行統(tǒng)一分析處理。測(cè)試系統(tǒng)智能化和自動(dòng)化程度的提高對(duì)測(cè)試設(shè)備間的數(shù)據(jù)交換提出了更高的要求，這里，分布式控制成為一種十分有效的方式［1］。在分布式測(cè)試系統(tǒng)中，數(shù)據(jù)交換主要在主處理機(jī)與各智能控制單元間進(jìn)行，根據(jù)測(cè)試系統(tǒng)的特點(diǎn)，其通信系統(tǒng)應(yīng)具有良好的可靠性、通用性、擴(kuò)展能力和簡單的連接方式，并應(yīng)能適應(yīng)長距離傳輸?shù)男枰谙到y(tǒng)通信方式及其協(xié)議的制定中應(yīng)充分考慮以上特點(diǎn)，以使其適應(yīng)不同測(cè)試應(yīng)用的需要。

發(fā)表于：2011/1/7

基于ARM的綜合測(cè)試儀設(shè)計(jì)

我國的疆域廣闊，時(shí)區(qū)分布不同，海拔以及溫度，濕度等氣候差異都很大，實(shí)時(shí)的了解我們所處位置的氣候情況對(duì)工作和生活是很重要的。尤其對(duì)一些野外工作的科研人員來說，需要測(cè)試海拔，溫度，濕度等物理量作為參考因素。為了測(cè)量這些物理量需要我們攜帶多種測(cè)試設(shè)備，這對(duì)野外工作很不方便。為了實(shí)時(shí)方便的了解我們所處的海拔高度和天氣情況，我們需要有更便捷，功能更齊全的綜合測(cè)量儀器。同時(shí)可以將現(xiàn)場(chǎng)的數(shù)據(jù)送到PC，以方便今后的進(jìn)一步分析和處理。

發(fā)表于：2011/1/7

消耗型光纖高溫測(cè)量儀的研究

在航天、材料、能源、化工、冶金等領(lǐng)域中，高溫測(cè)量占有及其重要的地位。目前，在高溫測(cè)量中，根據(jù)測(cè)量探頭是否與被測(cè)對(duì)象接觸，測(cè)溫儀器分為接觸式和非接觸式兩種。接觸式測(cè)溫是感溫元件直接與被測(cè)對(duì)象接觸，感受其溫度，如熱電偶測(cè)溫儀，優(yōu)點(diǎn)是測(cè)溫可靠，缺點(diǎn)是采用貴金屬，價(jià)格昂貴，抗氧化、還原能力和抗電磁干擾能力都較差，且壽命較短[1]。非接觸式測(cè)溫不需與被測(cè)對(duì)象直接接觸，通過接收被測(cè)對(duì)象所輻射的電磁波進(jìn)行測(cè)量，優(yōu)點(diǎn)是響應(yīng)快、壽命長、非消耗型，易實(shí)現(xiàn)連續(xù)測(cè)量，但受被測(cè)對(duì)象的發(fā)射率和測(cè)量環(huán)境的因素影響大，抗干擾性差，且其在研制過程中涉及到非黑體輻射系數(shù)的難題[2]，使其推廣應(yīng)用受到一定的限制。近年來，又提出了“接觸-非接觸”的測(cè)溫方法，但始終無法克服輻射系數(shù)的確定這個(gè)難題。

發(fā)表于：2011/1/7