頭條 意法半導(dǎo)體微型AI傳感器集成運(yùn)動跟蹤和高強(qiáng)度沖擊測量功能 2025年5月21日，中國--服務(wù)多重電子應(yīng)用領(lǐng)域、全球排名前列的半導(dǎo)體公司意法半導(dǎo)體 (STMicroelectronics，簡稱ST；紐約證券交易所代碼:STM) 日前宣布了一款在一個節(jié)省空間的封裝內(nèi)集成運(yùn)動跟蹤傳感器和高重力沖擊測量傳感器的慣性測量單元，裝備該測量單元的設(shè)備可以非常準(zhǔn)確地重構(gòu)完整事件，提供更多的功能和出色的用戶體驗(yàn) 最新資訊 分布式測試系統(tǒng)的一種網(wǎng)絡(luò)通信設(shè)計(jì) 在測試系統(tǒng)中，常需要對多臺儀器設(shè)備進(jìn)行集中控制，并對它們的數(shù)據(jù)進(jìn)行統(tǒng)一分析處理。測試系統(tǒng)智能化和自動化程度的提高對測試設(shè)備間的數(shù)據(jù)交換提出了更高的要求，這里，分布式控制成為一種十分有效的方式［1］。在分布式測試系統(tǒng)中，數(shù)據(jù)交換主要在主處理機(jī)與各智能控制單元間進(jìn)行，根據(jù)測試系統(tǒng)的特點(diǎn)，其通信系統(tǒng)應(yīng)具有良好的可靠性、通用性、擴(kuò)展能力和簡單的連接方式，并應(yīng)能適應(yīng)長距離傳輸?shù)男枰谙到y(tǒng)通信方式及其協(xié)議的制定中應(yīng)充分考慮以上特點(diǎn)，以使其適應(yīng)不同測試應(yīng)用的需要。 發(fā)表于：1/7/2011 基于ARM的綜合測試儀設(shè)計(jì) 我國的疆域廣闊，時區(qū)分布不同，海拔以及溫度，濕度等氣候差異都很大，實(shí)時的了解我們所處位置的氣候情況對工作和生活是很重要的。尤其對一些野外工作的科研人員來說，需要測試海拔，溫度，濕度等物理量作為參考因素。為了測量這些物理量需要我們攜帶多種測試設(shè)備，這對野外工作很不方便。為了實(shí)時方便的了解我們所處的海拔高度和天氣情況，我們需要有更便捷，功能更齊全的綜合測量儀器。同時可以將現(xiàn)場的數(shù)據(jù)送到PC，以方便今后的進(jìn)一步分析和處理。 發(fā)表于：1/7/2011 消耗型光纖高溫測量儀的研究 在航天、材料、能源、化工、冶金等領(lǐng)域中，高溫測量占有及其重要的地位。目前，在高溫測量中，根據(jù)測量探頭是否與被測對象接觸，測溫儀器分為接觸式和非接觸式兩種。接觸式測溫是感溫元件直接與被測對象接觸，感受其溫度，如熱電偶測溫儀，優(yōu)點(diǎn)是測溫可靠，缺點(diǎn)是采用貴金屬，價格昂貴，抗氧化、還原能力和抗電磁干擾能力都較差，且壽命較短[1]。非接觸式測溫不需與被測對象直接接觸，通過接收被測對象所輻射的電磁波進(jìn)行測量，優(yōu)點(diǎn)是響應(yīng)快、壽命長、非消耗型，易實(shí)現(xiàn)連續(xù)測量，但受被測對象的發(fā)射率和測量環(huán)境的因素影響大，抗干擾性差，且其在研制過程中涉及到非黑體輻射系數(shù)的難題[2]，使其推廣應(yīng)用受到一定的限制。近年來，又提出了“接觸-非接觸”的測溫方法，但始終無法克服輻射系數(shù)的確定這個難題。 發(fā)表于：1/7/2011 利用RTSI總線實(shí)現(xiàn)運(yùn)動控制和數(shù)據(jù)采集之間的同步 為了提高測量精度，許多測試系統(tǒng)要求在連續(xù)運(yùn)動中實(shí)時同步進(jìn)行數(shù)據(jù)采集。根據(jù)同步工作原理，利用RTSI總線技術(shù)和LabWindows/CVl編程實(shí)現(xiàn)了運(yùn)動控制和數(shù)據(jù)采集之間的同步，實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明該方法在提高測試精度方面是有效的。 發(fā)表于：1/6/2011 基于TMS320C6205的信號采集處理系統(tǒng) 典型的DSP(數(shù)字信號處理器)內(nèi)部采用改進(jìn)的哈佛結(jié)構(gòu)和流水線技術(shù)，可以在單指令周期內(nèi)完成乘加運(yùn)算，具有較高的處理能力。一個典型的基于DSP的信號采集處理系統(tǒng)，通常由DSP、A／D轉(zhuǎn)換器、存儲器和相應(yīng)的接口電路組成，大都做成PCI(外設(shè)部件互連)接口插卡形式和主控計(jì)算機(jī)一起工作。各種控制信息通過PCI發(fā)送給DSP，采集處理后的結(jié)果再通過PCI接口發(fā)送回主控計(jì)算機(jī)。PCI接口部分一般需要采用接口芯片來完成，這樣會顯著增加系統(tǒng)的設(shè)計(jì)調(diào)試難度，并使成本增加。而選用本身帶有PCI接口的DSP處理芯片就可以省去這一部分額外的電路，不但降低了開發(fā)難度，也降低了設(shè)備成本。TMS320C6205就是這樣一種帶有PCI接口的DSP芯片，本文重點(diǎn)討論基于這種芯片的信號采集處理系統(tǒng)的實(shí)現(xiàn)方法。 發(fā)表于：1/6/2011 怎么用拉力機(jī)測量與控制系統(tǒng) 微機(jī)控制試驗(yàn)機(jī)采用微機(jī)控制并結(jié)合先進(jìn)的電子控制技術(shù)，實(shí)行標(biāo)準(zhǔn)化、單元化設(shè)計(jì)，具有控制準(zhǔn)確、測量精度高、配置靈活，衡翼儀器拉力試驗(yàn)機(jī)可輕松實(shí)現(xiàn)附件互換，極易售后服務(wù)等特點(diǎn)。 發(fā)表于：1/5/2011 用IPK5手持式激光火車輪輪緣輪廓測量儀測量磨損 離線火車、地鐵車輪輪緣厚度磨損測量可用IPK5手持式激光火車輪輪緣輪廓測量儀，而本文介紹在線運(yùn)行列車輪緣厚度磨損測量。如下圖是用激光傳感器的案例，可用兩個三角反射激光傳感器。 發(fā)表于：1/5/2011 頻譜信號PassFail應(yīng)用 PassFail功能應(yīng)用在測試測量領(lǐng)域被廣泛使用，無論是在示波器、萬用表還是在頻譜分析儀上都可以看到它的身影。PassFail功能的本質(zhì)是將采集到的信號數(shù)據(jù)與模版數(shù)據(jù)比較，通過判斷信號與模版的比較結(jié)果給出Pass或是Fail的測試結(jié)果。 發(fā)表于：1/5/2011 高性能HBLED的測試 高亮度發(fā)光二極管（HBLED）憑借其高效率、長壽命和色彩豐富等特性正快速發(fā)展。這些特性使得HBLED廣泛應(yīng)用于諸如建筑照明、汽車照明、醫(yī)療設(shè)備、軍用系統(tǒng)甚至普通照明領(lǐng)域中。隨著HBLED價格進(jìn)一步的降低、效率不斷的提高，市場對這類器件的需求將會更快的增長，但是這需要更先進(jìn)的測試方法和儀器。 發(fā)表于：1/5/2011 CAN總線系統(tǒng)測試技術(shù) CAN總線作為現(xiàn)場總線的一種，在汽車、船舶、航天、工業(yè)測控與工業(yè)自動化等領(lǐng)域已經(jīng)得到廣泛的應(yīng)用。CAN總線開發(fā)流程中，需要對所開發(fā)的CAN總線系統(tǒng)進(jìn)行節(jié)點(diǎn)以及總線系統(tǒng)的驗(yàn)證與確認(rèn)，本文主要介紹了網(wǎng)絡(luò)測試驗(yàn)證的內(nèi)容，實(shí)現(xiàn)測試的工具與測試技術(shù)。 發(fā)表于：1/4/2011 ?…511512513514515516517518519520…?
