頭條 意法半導體微型AI傳感器集成運動跟蹤和高強度沖擊測量功能 2025年5月21日，中國--服務多重電子應用領域、全球排名前列的半導體公司意法半導體 (STMicroelectronics，簡稱ST；紐約證券交易所代碼:STM) 日前宣布了一款在一個節(jié)省空間的封裝內(nèi)集成運動跟蹤傳感器和高重力沖擊測量傳感器的慣性測量單元，裝備該測量單元的設備可以非常準確地重構完整事件，提供更多的功能和出色的用戶體驗 最新資訊 咱的納米器件有幾 安（A）、伏（V）？ 解決問題：脈沖I-V測試——納米測試小技巧在對納米器件進行電流-電壓（I-V）脈沖特征分析時通常需要測量非常小的電壓或電流，因為其中需要分別加載很小的電流或電壓去控制功耗或者減少焦耳熱效應。 發(fā)表于：5/10/2011 布線測試方法及光纖傳輸通道測試 計算機網(wǎng)絡結構化綜合布線系統(tǒng)(StructuredCablingSystem，SCS)是美國貝爾實驗室專家們經(jīng)過多年研究推出的基于星形拓樸結構的模塊系統(tǒng)，也是目前局域網(wǎng)建設首選的系統(tǒng)。 發(fā)表于：5/10/2011 基于網(wǎng)絡編碼的無線網(wǎng)絡技術 網(wǎng)絡編碼可以優(yōu)化網(wǎng)絡傳輸?shù)男阅埽W(wǎng)絡編碼的基本思想是網(wǎng)絡節(jié)點不僅對數(shù)據(jù)進行存儲轉發(fā)，還參與數(shù)據(jù)處理。網(wǎng)絡編碼的出現(xiàn)更迎合了無線網(wǎng)絡技術的發(fā)展，本文關注了網(wǎng)絡編碼在無線網(wǎng)絡中的研究和應用，初步探討了面對網(wǎng)絡編碼，我們應采取和研究的信息安全措施，同時提出了針對網(wǎng)絡編碼應著力解決的研究問題以及無線網(wǎng)絡技術如何依靠網(wǎng)絡編碼進行安全有效的信息交換，并對其發(fā)展進行了展望。 發(fā)表于：5/10/2011 贏在USB3.0爆發(fā)前夜，別讓接收機測試拖后腿 泰克公司大中華區(qū)市場總監(jiān)王中元先生表示，“從事高速串行數(shù)據(jù)設計的工程師需要快速跟進，以便及時抓住涌現(xiàn)的市場機會。 發(fā)表于：5/10/2011 力科公司發(fā)布12位ADC的示波器:WaveRunner HRO 6 Zi 力科公司正式發(fā)布全球第一臺12位ADC的示波器,WaveRunnerHRO6Zi系列。WaveRunnerHRO(HighResolutionOscilloscope)除了具有工業(yè)上最領先的12位模數(shù)轉換器（ADC），長存儲256Mpts/ch和卓越的DC精度指標外，還具有WaveRunner6Zi系列本身具有的強大的分析能力。 發(fā)表于：5/10/2011 安捷倫為網(wǎng)絡運營商提供 LTE - CDMA inter-RAT 一致性測試自動化軟件 安捷倫科技公司（NYSE：A）日前宣布已增強了 N5971A CDMA 交互式功能測試（IFT）軟件，并引入了自動化N5973A IFT支持 LTE- CDMA inter-RAT一致性測試。該解決方案支持開發(fā)人員和操作人員根據(jù)領先運營商的 LTE-CDMA 切換測試計劃快速且重復地生成測量報告。 發(fā)表于：5/9/2011 泛華恒興推出示波器和信號發(fā)生器設備自動校準系統(tǒng) 為了更好地幫助計量單位進行示波器和信號發(fā)生器的自動化校準，北京泛華恒興科技有限公司（簡稱：泛華恒興）自主研發(fā)了示波器和信號發(fā)生器設備自動校準系統(tǒng)，該系統(tǒng)已通過客戶驗收，并于近日正式交付使用。 發(fā)表于：5/9/2011 用BERTScope做好接收機測試，迎駕5Gbps USB3.0 最高速度擴大到5Gbps的USB3.0自完成標準制定以來，對應產(chǎn)品不斷出現(xiàn)，但主要集中在閃存盤和移動硬盤等存儲類Device產(chǎn)品。筆者從“泰克2011年春季創(chuàng)新論壇”上獲悉，已發(fā)布兩年的USB3.0在中國受到開發(fā)者熱捧，并且泰克的高速串行專家及合作伙伴表示，隨著不久之后Intel和AMD將其集成到主板（芯片組）中，USB3.0市場的爆發(fā)期在2012年也隨之到來，因為主板集成USB3.0后必將極大推動Host產(chǎn)品的大量涌現(xiàn)，這樣才能真正引爆USB3.0市場。 發(fā)表于：5/9/2011 咱的納米有幾 安（A）、伏（V）？（下） 在對納米器件進行電流-電壓（I-V）脈沖特征分析時通常需要測量非常小的電壓或電流，因為其中需要分別加載很小的電流或電壓去控制功耗或者減少焦耳熱效應。這里，低電平測量技術不僅對于器件的I-V特征分析而且對于高電導率材料的電阻測量都非常重要。利于研究人員和電子行業(yè)測試工程師而言，這一功耗限制對當前的器件與材料以及今后器件的特征分析提出了巨大的挑戰(zhàn)。 發(fā)表于：5/9/2011 日置新發(fā)售了一款數(shù)據(jù)記錄儀：LR5000系列 日置（HIOKI）于近期新發(fā)售了一款數(shù)據(jù)記錄儀----LR5000系列。是一款小巧輕便，設置簡單的小型記錄儀。與前款記錄儀一樣，涵蓋了溫度、濕度、電壓、控制信號、電流、脈沖等多種用途。 發(fā)表于：5/9/2011 ?…464465466467468469470471472473…?
