1、中子：不帶電的粒子流。輻射源為核反應(yīng)堆、加速器或中子發(fā)生器，在原子核受到外來粒子的轟擊時產(chǎn)生核反應(yīng)，從原子核里釋放出來。中子按能量大小分為：快中子、慢中子和熱中子。中子電離密度大，常常引起大的突變。
2、中子射線照相檢測的特點：
（1）中子射線比x射線和r射線具有更強的穿透力，對含氫材料表現(xiàn)為很強的散射性能等特點。
（2）中子通過物質(zhì)時與原子核相互作用而衰減，且不同的元素有不同的吸收系數(shù)。中子不能直接使X射線膠片感光成像，而是通過一種特殊的轉(zhuǎn)換屏與X射線底片組合使用。
（3）可以用來檢查含氫、硼、鋰的物質(zhì)與重金屬組合的物體、檢查爆炸裝置、檢查陶瓷中的含水情況、檢查密封在金屬中的固體火箭推進劑，也可以對原子序數(shù)相近或同一元素不同同位素進行檢測及檢查核燃料等。
3、中子射線照相技術(shù)原理：
中子射線照相的基本透照布置如圖1所示。從中子源發(fā)出的中子束，通過準(zhǔn)直器照射到被檢工件，檢測器記錄透射的中子束分布圖像。不同物質(zhì)具有不同的中子衰減系數(shù)，因此透射中子束的分布圖像可以形成工件缺陷和雜質(zhì)等的圖像。

1. 快中子源　2. 減速劑　3. 中子吸收層4. 準(zhǔn)直器　5. 中子束　6. 工件　7. 膠片
D ——中子入射孔徑　L ——準(zhǔn)直器長度
圖1中子射線照相的基本透照布置圖
4、常用中子檢測方法：
中子檢測技術(shù)目前常用的方法有熱中子法（TNA）：測量射線為中子俘獲反應(yīng)產(chǎn)生的特征γ射，主要測量元素有核材料，Ｈ，Ｎ，CL，Ｐ、快中子法（FNA）（常用14MeV）：測量射線為中子非彈性散射所激發(fā)的次級γ射，主要測量元素有Ｏ，Ｃ，（Ｈ），（Ｎ）、脈沖快熱中子法（PFTNA）：測量射線為在脈沖產(chǎn)生時測量中子非彈γ譜和脈沖間隙測量俘獲γ譜，主要測量元素有核材料，Ｈ，Ｎ，CL，Ｐ，Ｏ，Ｃ、伴隨a粒子成像技術(shù)/飛行時間法（API/TOF）：測量射線為利用符合技術(shù)測量中子非彈性散射所激發(fā)的次級γ射線，主要測量元素有Ｏ，Ｃ，Ｎ，金屬材料。
5、中子探測器XNC8800系列
針對高密度、大尺寸、超厚度零器件的檢測，X-Scan公司最近推出一款中子成像探測器——XNC8804系列線探測器。美國硅谷X-Scan imaging 公司是專注于X射線線陣探測器和芯片的專業(yè)供應(yīng)商，在無損探傷領(lǐng)域擁有豐富的成功經(jīng)驗。X-Scan的產(chǎn)品集信號探測、信號放大、數(shù)字輸出于一體，有多種控制功能可供選擇，可方便地與計算機連接，實現(xiàn)圖像或信號的數(shù)字化處理。該產(chǎn)品主要面向核電廠、海關(guān)邊防等應(yīng)用領(lǐng)域。
主要性能指標(biāo)：
·檢測能量范圍：0.025eV~14MeV；
·閃爍體材料：NE-426；
·主要用于快種子和熱中子成像；
·硼酸聚乙烯防護、異軸成像、光纖面板耦合技術(shù)；
·探測長度可選；
·模數(shù)轉(zhuǎn)換：16bits；
·讀取噪聲：80 ADU；
·操作溫度：0到 +40 °C；
·存儲溫度：–10 到 +50 °C；
·操作和存儲濕度：20%到 90 %；
電源電壓：100 到240 VAC。

圖2中子探測器XNC8800系列實物圖
XNC8800系列探測器型號如下表：
型號有效長度有效像素數(shù)
XNC8850系列XNC8804系列XNC8808系列
0.8mmXNC8816系列
1.6mm
高分辨率50um低分辨率
100um高分辨率0.4mm低分辨率
0.8mm
XW88**-061543072153638419219296
XW88**-1230861443072768384384192
XW88**-18463921646081152576576288
XW88**-246171228861441536768768384
XW88**-36925184239216230411521152576
XW88**-4812342457612288307215361536768


主要應(yīng)用方向：
·放射性襲擊的應(yīng)急響應(yīng)；
·海關(guān)和邊防巡邏；
·政府執(zhí)法部門；
·核電廠、銀行、政府實驗室、醫(yī)療設(shè)備等部門的安全控制；
·軍隊；消防隊；
·應(yīng)急響應(yīng)部門；
·采礦業(yè)；核電廠、核實驗室、放射醫(yī)學(xué)或核廢料安全檢測。

圖3 計算機軟驅(qū)中子成像圖（局部） 圖4 繼電器中子成像圖