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kla-tencor" title="kla-tencor">kla-tencor.com/">KLA-Tencor 公司（納斯達(dá)克" title="納斯達(dá)克">納斯達(dá)克股票代碼：KLAC）今天針對(duì)硬盤驅(qū)動(dòng)器基片" title="基片">基片與盤片高級(jí)缺陷檢查推出了 Candela 7100 系列。7100 系列建立在備受肯定且已量產(chǎn)化的 Candela 產(chǎn)品線基礎(chǔ)上，專為幫助制造商識(shí)別與分類諸如凹陷、凸起、微粒及隱藏缺陷等亞微米級(jí)關(guān)鍵缺陷而設(shè)計(jì)，可以提升良率，降低檢測(cè)的總成本。?
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KLA-Tencor 成長(zhǎng)與新興市場(chǎng) (GEM) 集團(tuán)副總裁 Jeff Donnelly 表示：“Candela 7100 系列是我們光學(xué)表面分析技術(shù)的一個(gè)創(chuàng)新延伸，作為缺陷檢測(cè)與分類的創(chuàng)紀(jì)錄工具，深獲客戶認(rèn)同。憑借更高的靈敏度和分類能力，7100 系列的一體化解決方案旨在減少對(duì)其它工具的依賴性，降低我們客戶的成本，并縮短他們獲得成果的時(shí)間。”? ?
表面積（儲(chǔ)存單位）密度的持續(xù)增長(zhǎng)推動(dòng)了對(duì)更低表面污染水平、更平滑的磁盤表面、對(duì)更小缺陷尺寸的更強(qiáng)靈敏度的需求，以及提早在制程中控制特定缺陷類型的重要性。此外，隨著磁記錄頭飛行高度的降低，微小缺陷如今對(duì)良率" title="良率">良率的影響也越來越大。Candela 7100 系列擁有業(yè)界領(lǐng)先的靈敏度，堪為應(yīng)對(duì)這些業(yè)界挑戰(zhàn)的理想解決方案。?
硬盤驅(qū)動(dòng)器行業(yè)要不斷滿足客戶對(duì)更高性價(jià)比的需求，因此制造商必須要以更快的時(shí)間獲得成果，采取在統(tǒng)計(jì)學(xué)上更有效的決策，同時(shí)保持成本競(jìng)爭(zhēng)優(yōu)勢(shì)。Candela 7100 降低了對(duì)眾多非生產(chǎn)工具與方法的依賴性，例如原子力、掃描電子與透射電子顯微鏡，以及電性測(cè)試。目前需要在眾多檢測(cè)工具上進(jìn)行的分析，現(xiàn)在都可在單獨(dú)一臺(tái)機(jī)器上以更快的速度和更低的成本完成。 ?
Candela 7100 系列正在接受領(lǐng)先存儲(chǔ)技術(shù)" title="存儲(chǔ)技術(shù)">存儲(chǔ)技術(shù)公司日立環(huán)球存儲(chǔ)技術(shù)公司 (HGST) 的認(rèn)證。?
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KLA-Tencor 目前正在接受產(chǎn)品訂單。出貨計(jì)劃在十月份開始。?
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9 月 17-18 日在加州圣克拉拉市縣圣克拉拉會(huì)展中心舉行的 DISKCON USA 2008 展覽會(huì)上，KLA-Tencor 還將在第 115 號(hào)展位展出 Candela 7100 系列，以及為數(shù)據(jù)存儲(chǔ)行業(yè)提供的其它良率管理解決方案。?
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關(guān)于 KLA-Tencor：KLA-Tencor 是為半導(dǎo)體制造及相關(guān)行業(yè)提供良率管理和制程控制解決方案的全球領(lǐng)先企業(yè)。該公司總部設(shè)在美國加州的米爾皮塔斯，銷售及服務(wù)網(wǎng)絡(luò)遍布全球。KLA-Tencor 躋身于標(biāo)準(zhǔn)普爾 500 強(qiáng)公司之一，并在納斯達(dá)克全球精選市場(chǎng)上市交易，其股票代碼為 KLAC。有關(guān)該公司的更多信息，請(qǐng)?jiān)L問 http://www.kla-tencor.com。?
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Candela 7100 技術(shù)摘要?
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此創(chuàng)新技術(shù)代表了 KLA-Tencor 對(duì)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)市場(chǎng)的不斷投入，并顯示出公司將來向下一代圖形化介質(zhì)需求延伸的進(jìn)展。Candela 7100 系列的新特性包括：?
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o???????? 一個(gè)新的雙波長(zhǎng)激光配置，經(jīng)過優(yōu)化，可以獲得更高的靈敏度、在基于層的功耗模式方面應(yīng)用設(shè)置的更高靈活性，以及更佳的激光輸出與穩(wěn)定性?
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o???????? 多個(gè)獨(dú)立的散射檢測(cè)儀，可以提供檢測(cè)與分類諸如凹陷、凸起、微粒及隱藏缺陷等亞微米級(jí)缺陷的能力?
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o???????? 改善的相位、光譜與磁通道為捕捉瑕疵及反映高級(jí)垂直磁記錄 (PMR) 表面提供了更高的靈敏度與穩(wěn)定性?