今天，KLA-Tencor公司（納斯達(dá)克股票代碼：KLAC）宣布推出兩款全新缺陷檢測(cè)產(chǎn)品，在硅晶圓和芯片制造領(lǐng)域中針對(duì)先進(jìn)技術(shù)節(jié)點(diǎn)的邏輯和內(nèi)存元件，為設(shè)備和工藝監(jiān)控解決兩項(xiàng)關(guān)鍵挑戰(zhàn)。VoyagerTM 1015系統(tǒng)提供了檢測(cè)圖案化晶圓的新功能，包括在光刻膠顯影后并且晶圓尚可重新加工的情況下，立即在光刻系統(tǒng)中進(jìn)行檢查。Surfscan? SP7系統(tǒng)為裸片晶圓、平滑和粗糙的薄膜提供了前所未有的缺陷檢測(cè)靈敏度，這對(duì)于制造用于7nm節(jié)點(diǎn)邏輯和高級(jí)內(nèi)存元件的硅襯底非常重要，同時(shí)也是在芯片制造中及早發(fā)現(xiàn)工藝問題的關(guān)鍵。這兩款新的檢測(cè)系統(tǒng)都旨在通過從根源上捕捉缺陷偏移，以加快創(chuàng)新電子元件的上市時(shí)間。

　　圖：KLA-Tencor全新缺陷檢測(cè)設(shè)備：Voyager? 1015與Surfscan? SP7將助力最先進(jìn)的邏輯與存儲(chǔ)技術(shù)節(jié)點(diǎn)，支持制程控制與制造設(shè)備監(jiān)控。

　　“在領(lǐng)先的IC技術(shù)中，晶圓和芯片制造商幾乎沒有出錯(cuò)的空間，”KLA-Tencor資深副總裁兼首席營(yíng)銷官Oreste Donzella說?！靶乱淮酒年P(guān)鍵尺寸非常小，以至于在裸硅晶圓或鍍膜監(jiān)控晶圓上，那些可以導(dǎo)致良率損失的缺陷尺寸已經(jīng)小于現(xiàn)有設(shè)備監(jiān)測(cè)系統(tǒng)的檢測(cè)極限。此外，無論是193i還是EUV，缺陷檢測(cè)領(lǐng)域的第二個(gè)關(guān)鍵是如何可靠地檢測(cè)到光刻工藝早期所引入的良率損失缺陷。我們的研發(fā)團(tuán)隊(duì)開發(fā)出兩種新的缺陷檢測(cè)系統(tǒng)——一種用于無圖案/監(jiān)控晶圓，一種用于圖案化晶圓——為工程師快速并準(zhǔn)確地解決這些難題提供了關(guān)鍵助力。”

　　Surfscan SP無圖案晶圓缺陷檢測(cè)系統(tǒng)采用實(shí)質(zhì)性創(chuàng)新的光源和傳感器架構(gòu)，并實(shí)現(xiàn)了足以改變行業(yè)面貌的靈敏度，其分辨率與前一代市場(chǎng)領(lǐng)先的Surfscan系統(tǒng)相比有著劃時(shí)代的提升。這種前所未有的分辨率的飛躍是檢測(cè)那些最小的殺手缺陷的關(guān)鍵。新分辨率的范圍可以允許對(duì)許多缺陷類型（如顆粒、劃痕、滑移線和堆垛層錯(cuò)）進(jìn)行實(shí)時(shí)分類——無需從Surfscan設(shè)備中取出晶圓或影響系統(tǒng)產(chǎn)量。同時(shí)，對(duì)功率密度峰值的精確控制也使得Surfscan SP7能夠檢測(cè)薄而精致精細(xì)的EUV光刻膠材料。

　　Voyager 1015圖案化晶圓缺陷檢測(cè)系統(tǒng)將新型光源、信號(hào)采集和傳感器完美結(jié)合，填補(bǔ)了業(yè)界針對(duì)顯影后檢測(cè)（ADI）方面的長(zhǎng)期空白。這一革命性的激光散射檢測(cè)系統(tǒng)在提升靈敏度的同時(shí)也可以減少噪聲信號(hào)——并且與最佳替代品相比得到檢測(cè)結(jié)果要迅速得多。像新型Surfscan SP7一樣，Voyager系統(tǒng)具有功率密度的獨(dú)特控制功能，可對(duì)顯影后敏感精細(xì)的光刻膠材料進(jìn)行在線檢測(cè)。在光刻系統(tǒng)和晶圓廠其他（工藝）模塊中對(duì)關(guān)鍵缺陷進(jìn)行高產(chǎn)量捕獲，使得工藝問題得以快速辨別和糾正。

　　第一批Surfscan SP7和Voyager 1015系統(tǒng)已在全球領(lǐng)先的晶圓、設(shè)備和芯片制造商的工廠中投入使用，與KLA-Tencor的eDR?電子束缺陷檢查分析系統(tǒng)以及Klarity?數(shù)據(jù)分析系統(tǒng)一起，用以從根源上識(shí)別工藝控制的問題。為了滿足晶圓和芯片制造商對(duì)高性能和生產(chǎn)力的要求，Voyager和Surfscan SP7系統(tǒng)由KLA-Tencor全球綜合服務(wù)網(wǎng)絡(luò)提供技術(shù)支持。有關(guān)這兩個(gè)新缺陷檢測(cè)系統(tǒng)的更多信息，請(qǐng)參閱Voyager 1015-Surfscan SP7發(fā)布信息頁面。

　　關(guān)于KLA-Tencor：

　　KLA-Tencor 公司是全球領(lǐng)先的工藝控制及良率管理解決方案的設(shè)備供應(yīng)商。該公司與全球的

　　客戶合作，開發(fā)最先進(jìn)的檢測(cè)和量測(cè)技術(shù)，致力服務(wù)于半導(dǎo)體、LED 等相關(guān)納米電子工業(yè)。憑借業(yè)界標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品組合和世界一流的工程師科學(xué)家團(tuán)隊(duì)，公司40余年來持續(xù)為客戶打造卓越的解決方案。KLA-Tencor 公司的總部位于加利福尼亞州米爾皮塔斯市（Milpitas），并

　　在全球設(shè)有專屬的客戶運(yùn)營(yíng)和服務(wù)中心。更多相關(guān)信息，請(qǐng)?jiān)L問公司網(wǎng)站http://www.kla-tencor.com/ (KLAC-P)。

　　前瞻性聲明：

　　本新聞稿中除歷史事實(shí)以外的聲明，例如關(guān)于Voyager 1015和Surfscan SP7系統(tǒng)的預(yù)期性能以及缺陷減少為晶圓、設(shè)備、材料和芯片制造設(shè)施所帶來的經(jīng)濟(jì)影響都是前瞻性陳述，并且并符合《1995 年美國(guó)私人證券訴訟改革法案》（Private Securities Litigation Reform Act of 1995）中“安全港” (Safe Harbor)條款的規(guī)定。這些前瞻性聲明基于目前資訊及預(yù)期， 并且受到諸多風(fēng)險(xiǎn)與不確定性影響。由于各種實(shí)際因素，例如（由于成本、性能抑或其他原因造成的）新技術(shù)推遲、其他公司推出競(jìng)爭(zhēng)性產(chǎn)品、或影響KLA-Tencor 產(chǎn)品的實(shí)施、性能或使用的意外技術(shù)挑戰(zhàn)或限制等影響，實(shí)際結(jié)果可能與此類聲明中的預(yù)計(jì)結(jié)果大不相同。