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SK海力士將轉向4F2結構的3D DRAM

以降低EUV光刻成本
2024-08-14
來源:芯智訊

8月13日消息,據Thelec報道,SK 海力士研究員Seo Jae Wook 周一在韓國首爾舉辦的產業(yè)會議中指出,自從1c納米制程DRAM 商業(yè)化之后,極紫外光(EUV)光刻制程成本將快速攀升,SK海力士計劃開發(fā)3D DRAM以進一步控制成本。

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Seo Jae Wook 認為,現在是確認使用EUV制造DRAM 是否有利可圖的時刻,目前公司考慮未來DRAM 制造采用垂直柵極(VG)技術,即所謂的“3D DRAM”。

所謂的垂直柵極技術是DRAM制造商內部所稱的“4F2”結構,這是一種經過大量研究的單元陣列結構,其中晶體管以垂直方式堆疊,也就是3D DRAM。三星將這種3D DRAM 稱為“垂直通道晶體管”(vertical channel transistor,簡稱VCT)。

4F2結構從下而上依序為源極(source)、閘極(gate)、汲極(drain)和電容器(capacitor)。字元線(Word Line)連接到閘極,位元線(Bit Line)則連接到源極。與6F2 DRAM 相比,采用這種單元陣列可將芯片表面面積減少30%。

知情人士表示,三星和SK 海力士目標是10nm制程以下的DRAM 應用4F2 技術。 SK 海力士的Seo Jae Wook 認為,采用VG 或3D DRAM 制程設計,可將EUV 制程成本降一半。

三星此前宣布成功將3D DRAM 堆疊到16 層,但表示現在不是量產階段,而是可行性驗證階段。


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