中文引用格式: 黃彤彤,陳昊,武辰飛,等. Concurrent Multi-die Optimization物理實現(xiàn)方案的應(yīng)用[J]. 電子技術(shù)應(yīng)用,2023,49(8):30-35.
英文引用格式: Huang Tongtong,Chen Hao,Wu Chenfei,et al. Application of concurrent multi-die optimization method in physically implematation[J]. Application of Electronic Technique,2023,49(8):30-35.
0 引言
摩爾定律所帶來的規(guī)模復(fù)雜性推動了半導(dǎo)體行業(yè)迅速發(fā)展,晶體管數(shù)量增加使得單芯片的功能增加、性能提升。當(dāng)摩爾定律放緩,系統(tǒng)復(fù)雜性持續(xù)增加,制造工藝不斷接近材料的物理極限時,依靠半導(dǎo)體的制程微縮提升芯片性能的模式愈發(fā)艱難。集成電路的設(shè)計發(fā)展逐漸從傳統(tǒng)的二維平面轉(zhuǎn)向三維立體,多die堆疊的3DIC設(shè)計已經(jīng)成為推動后摩爾時代發(fā)展的重要途徑之一[1]。3D堆疊指兩顆或多顆芯粒通過特殊的工藝結(jié)構(gòu)在垂直方向上直接堆疊[2],從而實現(xiàn)芯粒之間及與外部的信號連接,常見的有通過硅通孔(Through Silicon Via,TSV)的面對背(Face-to-Back)堆疊形式,或通過微凸點(Microbump)或混合鍵合凸點(Hybrid-Bonding Bump,HB Bump)的面對面(Face-to-Face)堆疊形式[3-5]。3DIC能夠?qū)⒉煌に囍瞥?、不同功能的芯片封裝整合,實現(xiàn)更高水平的集成,通過垂直互聯(lián)的短距離和高密度提供更大的通信帶寬,從而使芯片系統(tǒng)具有更佳的性能表現(xiàn),在異構(gòu)計算、神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)、汽車電子、數(shù)據(jù)中心等領(lǐng)域展現(xiàn)出廣闊的應(yīng)用前景。
Cadence Integrity 3D-IC平臺是面向異構(gòu)和同構(gòu)2.5D及3D多芯粒堆疊式設(shè)計的系統(tǒng)規(guī)劃、物理實現(xiàn)和驗證分析統(tǒng)一集成的綜合解決方案。工具對3DIC的系統(tǒng)級設(shè)計提供了多種實現(xiàn)方案,包括系統(tǒng)設(shè)計——單die實現(xiàn)的die-by-die流程,以及多die協(xié)同(concurrent multidie)的物理實現(xiàn)流程[6-7]。其中die-by-die流程是在3D結(jié)構(gòu)創(chuàng)建后分別對兩個die進行2D物理實現(xiàn),而concurrent multidie流程通過對兩個die的協(xié)同布局布線(Place and Route,PnR)及3D結(jié)構(gòu)單元(HB/TSV)的位置優(yōu)化,為芯片體系提供更加系統(tǒng)完備的約束信息,為設(shè)計整體的時序和功耗優(yōu)化提供有利條件。
本工作基于Cadence Integrity 3D-IC工具,搭建了 concurrent multidie的物理實現(xiàn)流程,通過協(xié)同優(yōu)化PnR的方式為該3D設(shè)計提供了全新可實現(xiàn)的后端方案,并對die -by-die方案和concurrent方案的實現(xiàn)結(jié)果進行系統(tǒng)性評估,為后續(xù)延續(xù)性的設(shè)計提供良好的經(jīng)驗。
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作者信息:
黃彤彤1,2,陳昊1,2,武辰飛1,2,許立新3,徐國治3,李玉童3,周國華1,2,歐陽可青1,2
(1.射頻異質(zhì)異構(gòu)集成全國重點實驗室(中興通訊股份有限公司),廣東 深圳 518055;2.深圳市中興微電子技術(shù)有限公司,廣東 深圳 518055;3.上??请娮涌萍加邢薰?,上海 200126)