《電子技術(shù)應(yīng)用》
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Intel 4工藝進(jìn)展順利:每瓦性能提升20%

2021-11-15
來源:全球半導(dǎo)體觀察
關(guān)鍵詞: Intel4 EUV SRAM 酷睿

  近日,英特爾再次曝光了其Intel 4 EUV工藝的最新進(jìn)展。根據(jù)官方放出的48秒視頻展示了基于該工藝生產(chǎn)的晶圓的測試過程,最后的測試結(jié)果顯示,整個(gè)晶圓上的芯片幾乎通過了所有測試,內(nèi)部的SRAM、邏輯單元、模擬單元都符合規(guī)范,芯片性能較優(yōu)。這也意味著Intel 4工藝進(jìn)展順利,良率已經(jīng)達(dá)到了較高的水平。

  在今年10月底,英特爾發(fā)布了12代酷睿,該芯片不僅采用了全新的“大小核”架構(gòu),制程工藝也升級(jí)到了Intel 7(之前的10nm SuperFin工藝,相當(dāng)于臺(tái)積電7nm工藝)。根據(jù)英特爾的規(guī)劃,預(yù)計(jì)將會(huì)在明年下半年量產(chǎn)全新的Intel 4工藝。

  根據(jù)英特爾之前公布的信息顯示,與Intel 7相比,Intel 4的每瓦性能提高了約20% ,同時(shí)它也將是首個(gè)完全采用EUV光刻技術(shù)的英特爾FinFET節(jié)點(diǎn)。此前臺(tái)積電的7nm EUV工藝也只是少部分環(huán)節(jié)采用了EUV工藝。

  目前,Intel沒有公布這個(gè)晶圓的具體情況,不過結(jié)合之前的信息來看,這個(gè)測試的晶圓應(yīng)該是14代酷睿Meteor Lake,已經(jīng)在今年第二季度完成計(jì)算單元的流片,現(xiàn)在測試結(jié)果較為合理。




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