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下一代EUV光刻機(jī)2023年到來

2021-11-04
來源:半導(dǎo)體行業(yè)觀察
關(guān)鍵詞: EUV光刻機(jī)

  ASML 已宣布計(jì)劃開發(fā)一種新的EUV(極紫外)光刻系統(tǒng)。EUV 光刻工具現(xiàn)在在世界上最先進(jìn)的半導(dǎo)體市場(chǎng)中非常重要。據(jù)該領(lǐng)域唯一供應(yīng)商 ASML 的高管稱,隨著這種新設(shè)備的開發(fā),摩爾定律預(yù)計(jì)將至少在未來 10 年內(nèi)得到延續(xù)。

  在接受媒體采訪時(shí),ASML 副總裁 Teun van Gogh 表示,“我們將能夠在 2023 年上半年向我們的客戶提供新一代的高數(shù)值孔徑(NA)產(chǎn)品,數(shù)值預(yù)計(jì)從現(xiàn)有設(shè)備的 0.33 增加到 0.55。有了這種新設(shè)備,半導(dǎo)體制造商至少在未來 10 年內(nèi)將能夠?qū)崿F(xiàn)遠(yuǎn)遠(yuǎn)超出目前 2 納米限制的工藝技術(shù)?!?/p>

  “我們一直致力于提供工具來支持我們的客戶,大約每?jī)赡暌淮巍5?2023 年底,當(dāng)我們可以開始出貨

  更高 NA 的設(shè)備時(shí),我們將獲得更多的客戶支持。我們將能夠提供更多的客戶支持。我們有信心這項(xiàng)新技術(shù)將為未來 10 年提供進(jìn)一步的客戶支持。”

  ASML 預(yù)測(cè)“半導(dǎo)體制造商將首先將 0.55NA 用于最先進(jìn)的晶圓層,以通過應(yīng)用新技術(shù)來擴(kuò)大生產(chǎn),這是一種極具成本效益的單次曝光 EUV 工藝。對(duì)于成熟工藝來說,單次曝光 0.55NA 技術(shù)有望在未來 6 年內(nèi)達(dá)到極限,因此半導(dǎo)體制造商將能夠再次使用 multi-patterning 進(jìn)一步提高晶體管密度并實(shí)現(xiàn)更多復(fù)雜的工藝節(jié)點(diǎn)?!?/p>

  ASML 是全球唯一的 EUV 設(shè)備制造商。2010年首次為“亞洲客戶公司”(公司名稱未公開)提供原型EUV工具。半導(dǎo)體制造領(lǐng)域目前分為使用 EUV 設(shè)備的制造商和不使用 EUV 設(shè)備的制造商。EUV 被臺(tái)積電、三星電子、英特爾等使用,為蘋果、聯(lián)發(fā)科和高通等客戶公司提供尖端芯片。與此同時(shí),不使用 EUV 的半導(dǎo)體制造商在多年前就已經(jīng)放棄了尖端節(jié)點(diǎn)。通過放棄數(shù)十億美元的資本投資,它尋求增加舊生產(chǎn)線的利潤,并專注于幾乎無法享受工藝小型化帶來好處的產(chǎn)品。

  在中國以外,只有英特爾、臺(tái)積電和三星可以使用 EUV 進(jìn)行邏輯制造。據(jù) Hosseini 稱,三星、SK 海力士和美光科技將在 DRAM 應(yīng)用中使用 EUV。

  Hosseini 表示,預(yù)計(jì)臺(tái)積電等領(lǐng)先半導(dǎo)體代工廠將在未來幾年內(nèi)通過部署 ASML 的 0.55NA 工具來克服他們目前在 3nm 工藝技術(shù)方面面臨的障礙。

  Foundry 實(shí)現(xiàn) 3nm 工藝的唯一方法是使用 EUV 的多重圖案。然而,這將顯著增加晶圓成本。代工廠避免 EUV 多重圖案化的唯一方法是使用高 NA (0.55)設(shè)備。

  Hosseini 表示,“臺(tái)積電尚未投入實(shí)際使用,但 3nm 節(jié)點(diǎn)不會(huì)像先前預(yù)期的那樣成功。3nm 節(jié)點(diǎn)將無法充分增加晶體管密度,并且由于互連間距將大于預(yù)計(jì),晶體管成本將與現(xiàn)有4nm節(jié)點(diǎn)大致相同,性能提升將受到限制?!?/p>

  據(jù)他介紹,半導(dǎo)體市場(chǎng)的“三巨頭”臺(tái)積電、三星、英特爾都意識(shí)到了這種壁壘的存在,將率先在2nm實(shí)現(xiàn)新的GAA(Gate All Around)FET技術(shù)。節(jié)點(diǎn)。據(jù)說他正在參與競(jìng)賽。對(duì)于代工市場(chǎng)的領(lǐng)導(dǎo)者臺(tái)積電來說,3D 芯片的關(guān)鍵技術(shù)轉(zhuǎn)型之一預(yù)計(jì)將是從 FinFET 器件到 3nm/2nm 節(jié)點(diǎn)的新型 GAA FET 的過渡。

  Hosseini在一份研究報(bào)告中表示,“三大半導(dǎo)體制造商目前都在爭(zhēng)相開發(fā)2nm的GAA晶體管技術(shù),但在3nm節(jié)點(diǎn)之后,同樣的趨勢(shì)將在2021年到2024年繼續(xù)。我們將繼續(xù)將晶體管密度提高到2.2億每平方毫米,目標(biāo)是實(shí)現(xiàn)約 30 納米的互連間距。

  半導(dǎo)體制造商可以通過采用multi-patterning來提高晶體管密度,但另一方面,半導(dǎo)體制造過程中的步驟數(shù)量增加,每次掃描EUV消耗的能量也增加,導(dǎo)致制造成本更高。向上。

  ”當(dāng)然,多次曝光會(huì)增加步驟的數(shù)量,“ASML EUV NXE 業(yè)務(wù)線副總裁 Marco Pieters 在接受采訪時(shí)表示。縱觀所有必要的步驟,我們可以看到,不僅是結(jié)果光刻和光刻工具的能量,還涉及氣相沉積技術(shù)。”

  Pieters 說:“幾年前,當(dāng) 0.33NA EUV 設(shè)備首次面世時(shí),ASML 的客戶從使用 DUV(深紫外)光刻的多圖案技術(shù)轉(zhuǎn)向單次曝光 EUV?!鞭D(zhuǎn)變已經(jīng)完成,但單次曝光EUV 已經(jīng)達(dá)到極限?!?/p>

  ”現(xiàn)在,客戶已經(jīng)傾向于在多重圖案化方法中使用 EUV。對(duì)于只需要使用現(xiàn)有 EUV 進(jìn)行單一圖案化的層,客戶繼續(xù)具有高 NA。由于 0.33NA 預(yù)計(jì)將并行使用,因此 0.33NA 和 0.55 NA未來將繼續(xù)共存?!?/p>

  SIG 的 Hosseini 說:”帶有 EUV 掃描儀的半導(dǎo)體制造商正試圖通過轉(zhuǎn)向多圖案來擠出更多產(chǎn)品?!?/p>

  ”EUV 多重圖案化是從 4nm 到 3nm,最終到 3nm+ 的唯一途徑,“Hosseini 說。

  ASML 似乎在說,”客戶仍有可能在 0.33NA 的EUV設(shè)備上實(shí)現(xiàn)新的技術(shù)節(jié)點(diǎn)。“

  ”0.33NA EUV 將在未來與下一個(gè)多個(gè)節(jié)點(diǎn)一起使用,即所謂的 2nm 及以上,“Pieters 說。但是,半導(dǎo)體制造商會(huì)以不同的方式指定工藝節(jié)點(diǎn)。

  Hosseini在一份研究報(bào)告中表示,”臺(tái)積電目前量產(chǎn)的5nm+相當(dāng)于英特爾已經(jīng)開始量產(chǎn)的‘10nm SuperFin’。在這兩種情況下,晶體管密度都是每平方毫米超過1.75億,互連間距低于30納米?!?/p>




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