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西門(mén)子發(fā)布 Tessent RTL Pro 強(qiáng)化可測(cè)試性設(shè)計(jì)能力
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基于FCM flow的小規(guī)模數(shù)字電路芯片測(cè)試
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MENTOR GRAPHICS TESSENT DEFECTSIM 榮獲《電子產(chǎn)品》2016 年度產(chǎn)品獎(jiǎng)
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循環(huán)卷積DFT的優(yōu)化算法與仿真
發(fā)表于：2016/5/22 21:33:00
Mentor Graphics 發(fā)布 Veloce Apps 開(kāi)啟硬件仿真新紀(jì)元
發(fā)表于：2016/2/26 19:33:00
全新Cadence Modus測(cè)試解決方案最高可將系統(tǒng)級(jí)芯片測(cè)試時(shí)間縮短三倍
發(fā)表于：2016/2/23 22:30:00
一種片上系統(tǒng)復(fù)位電路的設(shè)計(jì)
發(fā)表于：2013/1/17 16:35:00
LTE上行DFT/IDFT的一種設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)
發(fā)表于：2011/10/8 15:17:24
一款雷達(dá)芯片的基于掃描路徑法可測(cè)性設(shè)計(jì)
發(fā)表于：2011/3/2 0:00:00
綜合儀器方法解決棘手的系統(tǒng)級(jí)測(cè)試
發(fā)表于：2011/1/7 0:00:00
提高DFT設(shè)計(jì)測(cè)試覆蓋率的一種有效方法
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SOC中多片嵌入式SRAM的DFT實(shí)現(xiàn)方法
發(fā)表于：2010/10/1 22:48:17
基于OFDM的無(wú)線(xiàn)移動(dòng)通信
發(fā)表于：2010/6/13 0:00:00
利用AD5933的高精度生物阻抗測(cè)量方案
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