基于IEEE1149.7標準的CJTAG測試設計方法研究
所屬分類：技術論文
上傳者：aet
文檔大小：478 K
標簽： CJTAG 測試控制器 邊界掃描
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文檔介紹：在深入研究IEEE1149.7標準的基礎上，針對測試問題設計了CJTAG測試控制器，實現(xiàn)了T0、T1、T3和T4層級的主要功能。對該控制器的各個功能進行了仿真驗證。結果表明該控制器產(chǎn)生的測試信號符合IEEE1149.7標準的規(guī)定，能夠控制待測芯片實現(xiàn)相應的測試功能，取得了較好的測試效果。
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