基于IEEE1149.7標(biāo)準(zhǔn)的CJTAG測(cè)試設(shè)計(jì)方法研究
所屬分類：技術(shù)論文
上傳者：aet
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標(biāo)簽： CJTAG 測(cè)試控制器 邊界掃描
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文檔介紹：在深入研究IEEE1149.7標(biāo)準(zhǔn)的基礎(chǔ)上，針對(duì)測(cè)試問(wèn)題設(shè)計(jì)了CJTAG測(cè)試控制器，實(shí)現(xiàn)了T0、T1、T3和T4層級(jí)的主要功能。對(duì)該控制器的各個(gè)功能進(jìn)行了仿真驗(yàn)證。結(jié)果表明該控制器產(chǎn)生的測(cè)試信號(hào)符合IEEE1149.7標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定，能夠控制待測(cè)芯片實(shí)現(xiàn)相應(yīng)的測(cè)試功能，取得了較好的測(cè)試效果。
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