利用2400系列數(shù)字源表對(duì)二極管生產(chǎn)進(jìn)行測(cè)試 | |
所屬分類(lèi):解決方案 | |
上傳者:keithley | |
文檔大?。?span>382 K | |
標(biāo)簽: 測(cè)試測(cè)量?jī)x器 | |
所需積分:0分積分不夠怎么辦? | |
文檔介紹:為了保證制造商性能指標(biāo)的一致性,在出廠(chǎng)前發(fā)現(xiàn)并清除有缺陷器件,對(duì)封裝二極管進(jìn)行單點(diǎn)通過(guò)/失敗直流測(cè)試至關(guān)重要。在最后的檢測(cè)過(guò)程中,大部分類(lèi)型的二極管要經(jīng)歷至少3種主要的直流參數(shù)測(cè)試,它們是:前向電壓測(cè)試(VF)、擊穿電壓測(cè)試(VR)以及漏電流測(cè)試(IR)。盡管這些測(cè)試的可靠性對(duì)于確保產(chǎn)品質(zhì)量至關(guān)重要,但同樣重要的是,為了保持較高的產(chǎn)量,這些測(cè)試必須迅速完成。 | |
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