基于FPGA的數據域邊界掃描測試向量發(fā)生器的設計與實現
所屬分類：參考設計
上傳者：chenyy
文檔大?。?span>823 K
標簽： FPGA
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文檔介紹：邊界掃描技術是應用于數字集成電路器件的測試性結構設計方法。本文設計了一種基于FPGA的邊界掃描測試向量發(fā)生器，該測試向量發(fā)生器可以為邊界掃描故障診斷系統(tǒng)提供測試向量并可計算測試向量的故障覆蓋率。本設計采用Altera公司的Cyclone II系列FPGA進行驗證和實現，本設計與以往的通過軟件提供測試向量的方法相比，在速度和效率上有了較大的提高。
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