基于FPGA的數(shù)據(jù)域邊界掃描測(cè)試向量發(fā)生器的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)
所屬分類:參考設(shè)計(jì)
上傳者:chenyy
文檔大小:823 K
標(biāo)簽: FPGA
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文檔介紹:邊界掃描技術(shù)是應(yīng)用于數(shù)字集成電路器件的測(cè)試性結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)方法。本文設(shè)計(jì)了一種基于FPGA的邊界掃描測(cè)試向量發(fā)生器,該測(cè)試向量發(fā)生器可以為邊界掃描故障診斷系統(tǒng)提供測(cè)試向量并可計(jì)算測(cè)試向量的故障覆蓋率。本設(shè)計(jì)采用Altera公司的Cyclone II系列FPGA進(jìn)行驗(yàn)證和實(shí)現(xiàn),本設(shè)計(jì)與以往的通過(guò)軟件提供測(cè)試向量的方法相比,在速度和效率上有了較大的提高。
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