某型設(shè)備控制裝置單板測(cè)試方法研究
所屬分類：技術(shù)論文
上傳者：aet
文檔大?。?span>421 K
標(biāo)簽： 通用電子測(cè)量
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文檔介紹：以通用檢測(cè)平臺(tái)為基礎(chǔ)，研究了某型設(shè)備控制裝置單板的測(cè)試方法。采用先進(jìn)的電路仿真軟件對(duì)電路板進(jìn)行了原理仿真、測(cè)試仿真，確定了電路板的測(cè)試思路、測(cè)試方法。根據(jù)測(cè)試需要，提出了特殊激勵(lì)信號(hào)的產(chǎn)生方法。最后，對(duì)該電路板進(jìn)行了實(shí)際的測(cè)試驗(yàn)證，所得波形滿足電路板的功能要求，結(jié)果證實(shí)了測(cè)試方法的有效性與合理性。
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