嵌入式系統(tǒng):測(cè)試和測(cè)量挑戰(zhàn)
所屬分類：解決方案
上傳者：bixd
文檔大?。?span>1252 K
標(biāo)簽： 測(cè)試測(cè)量?jī)x器
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文檔介紹：在本入門手冊(cè)中，我們將詳細(xì)考察嵌入式系統(tǒng)的各種單 元，介紹實(shí)現(xiàn)中出現(xiàn)的部分挑戰(zhàn)，通過新一代測(cè)試測(cè)量 工具，我們可以有效解決這些挑戰(zhàn)。
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