針對檢查的PCB優(yōu)化設(shè)計 | |
所屬分類:解決方案 | |
上傳者:bixd | |
文檔大?。?span>622 K | |
標簽: 通用電子測量 | |
所需積分:0分積分不夠怎么辦? | |
文檔介紹:為了便于檢查,一塊PCB能夠在設(shè)計階段就進行優(yōu)化布局嗎? 答案當然是肯定的,我們在本文中提供了一些建議供參考。 | |
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